运行具有改进的线性性的计数辐射检测器的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器，特别是计数Ｘ射线检测器的方法，在运行期间计数辐射检测器（４）的每个检测器元件（１４）以取决于每时间单位出现的射线量子数的计数率提供计数脉冲；将每个检测器元件（１４）或检测器元件（１４）的部分片段提供的计数率，通过函数关系换算成实际计数率，或乘以取决于计数率大小的校正系数。校正系数是对各检测器元件（１４）或其部分片段事先确定的，用于对由于检测器元件（１４）的空载时间形成的、与每时间单位出现的射线量子实际数的计数率的偏差进行校正。本发明专利技术方法尤其在高辐射强度下改善了计数辐射检测器的线性性，在Ｘ射线ＣＴ设备中也能满足线性条件。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器、特别是计数X射线检测器的方法，其中，在运行期间计数辐射检测器的每个检测器元件都提供具有取决于每时间单位出现的射线量子的数目的计数率的计数脉冲。本专利技术还涉及一种计数辐射检测器以及一种具有按照该方法运行的计数辐射检测器的X射线装置。
技术介绍
该方法首先适合于例如在将来应用到X射线计算机断层造影仪(CT)中的计数X射线检测器。不过，也自然可以应用到其它的计数辐射检测器中，在这些检测器中由于在每时间单位积累的射线量子数量高时检测器空载时间的影响，而存在不充分的线性性的问题。借助于计算机断层造影仪的检查解决了医学中各种各样的问题。在此，计算机断层造影仪包括一个X射线源以及与该X射线源相对设置的、由多个检测器模块组成的X射线检测器，这些检测器模块由单个的检测器元件构成。检测器元件为了位置分辨地采集X射线通常相邻地成一行或者多行设置。从对通过位于X射线源和检测器之间的检查对象的X射线的衰减的位置分辩地测量，可以获得关于在检查对象内物质分布的认知。为了检验X射线，一方面公知的是具有间接转换器的检测器，该间接转换器由带有后接的光电检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器，特别是计数Ｘ射线检测器的方法，其中，在运行期间计数辐射检测器（４）的每个检测器元件（１４）以取决于每时间单位出现的射线量子数目的计数率提供计数脉冲，其特征在于，将由每个检测器元件（１４） 或检测器元件（１４）的部分片段所提供的计数率，通过函数关系换算成实际的计数率，或者乘以取决于计数率大小的校正系数，所述校正系数是对各检测器元件（１４）或者其部分片段事先确定的，并且对由于检测器元件（１４）的空载时间而形成的、与每时间单位出现的射线量子的实际数目的计数率的偏差进行校正。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：比约恩海斯曼，西尔克詹森，托马斯冯德哈尔，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]