【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种探针塔(pogo tower )，特别是 指 一 种具有降低噪声与减少漏电流效果的探针塔。
技术介绍
目前探针塔其上的测试探针分别配置在探针塔的 I/O区与LCD区，其中I/O区所使用的测试探针较细， LCD区所使用的测试探针较粗，且目前在探针塔I/O区 与LCD区的测试探针为固定设置，是将测试探针套管 的部份先焊在PCB板上，再将测试探针针头放入测试 探针的套管中，并利用PCB板上的导线，将工/0区与 LCD区的接地互相连接，以达到将噪声与漏电流排除的 目的。己知技术的美国专利第6 1 1 4 8 6 9号、美 国专利第6 1 6 6 5 5 3号、美国专利第6 3 0 4 0 9 2号、美国专利第6 74 1 0 7 2号，以及美国专 利第6 8 7 6 2 1 5号皆揭露测试探针与探针塔相关 的基本结构。而目前己知技术的探针塔在使用上有下列三项问 题点1 .由于I/O区所使用的测试探针较细，故常常于 校机时造成测试探针针头的部份折断的问题，且此型 式的测试探针价格较昂贵。2 .因探针塔其测试探针的固定方式为将测试探 针针头部份放入测试...
【技术保护点】
一种探针塔，用于晶片测试，包含： 一圆形本体，配置有ＬＣＤ测试区以及Ｉ／Ｏ测试区，且该圆形本体具有一本体上座及一本体下座； 多数群探针孔，配置在该ＬＣＤ测试区及Ｉ／Ｏ测试区，同时垂直贯穿该本体上座及本体下座；以及 多数群测试探针，配置在该等探针孔内，用以传递通过该圆形本体的测试信号； 其特征在于， 多数群接地孔，配置在该Ｉ／Ｏ测试区； 多数群接地针，以紧配方式嵌入于该本体上座及本体下座其中之一的多数群接地孔，并电性导通至该圆形本体，用以将邻近的测试探针的噪声及漏电流接地； 多数群间隔环，以绝缘材料制成，配置于该等探针孔的端部，用以固定该等测试探针于该探针孔内，且提供该等测试...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林源记，黎孟达，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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