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本发明揭露一种探针塔，用于晶片测试，包含：一圆形本体，配置有ＬＣＤ测试区以及Ｉ／Ｏ测试区，且圆形本体具有一本体上座及一本体下座；多数群探针孔，配置在ＬＣＤ测试区及Ｉ／Ｏ测试区，同时垂直贯穿本体上座及本体下座；以及多数群测试探针，配置在等探针...
该专利属于京元电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京元电子股份有限公司授权不得商用。

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