取置机测试手臂的调整治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种取置机测试手臂的调整治具，该调整治具包括一本体及至少一与测试手臂基座的第二对位结构相配合的第一对位结构，该本体的顶部呈一平整面，以作为水平的校正，并供第一对位结构设于其上，以供测试手臂作对位。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种取置机测试手臂的调整治具，特别指一种用于该测试手臂的水平校正及其对位的调整治具。为便于该基座10a与取置头11a的组装，以及使组装后的测试手臂1a更为稳固，该测试手臂1a是在其基座10a与取置头11a之间至少设有两组凹、凸相配合的对位结构13a，而每一组对位结构13a则包含一凸设于基座10a底面的定位柱14a与一凹设于取置头11a顶面的定位孔15a。如此，当取置头11a的扣具12a尚未与基座10a扣合时，是可先利用该基座10a的定位柱14a嵌入取置头11a的定位孔15a中，以确认两者的相对位置后，再行扣合组装。上述公知的测试手臂1a在检验集成电路(图略)时，是须先与锁设于平台2a上的测试基板20a作对位工作。如图2及图3所示，该测试基板20a上具有一座体21a，座体21a上设有一可供集成电路(图略)容置的方形置放空间22a，在接近该置放空间22a的两相对的对角处上穿设有校正孔23a，又在两校正孔23a内分别固设有一塑性护套24a。另外，在该测试手臂1a的取置头11a下方外围嵌固一框体16a，并在该框体16a上分别穿设有与座体21a的两校正孔23a相对应的校正杆17a。如此，该测试手臂1a可通过操作者以手动方式，将两校正杆17a调整至可穿入两校正孔23a的护套24a中，再通过操控该测试手臂1a的控制系统(图略)记录此时的坐标位置，以完成对位工作。但是，由于该测试手臂1a在将集成电路(图略)吸取至测试基板20a上作检测工作时，是利用其取置头11a的底面18a与集成电路(图略)相贴附后吸取，再将该集成电路(图略)移动至上述进行对位工作时计算机所记录的坐标位置，并向下移动以将该集成电路(图略)下压至座体21a的置放空间22a内，以进行测试。然而，若该取置头11a的底面18a未保持水平状态时，则被测试手臂1a下压的集成电路(图略)即有可能因此而受损，故仍需调整该测试手臂1a的基座10a，使其能令取置头11a的底面18a保持水平，以避免损坏受检测的集成电路(图略)。但是，公知的测试手臂1a在此调整上，仅依靠操作者以肉眼作判断，而无利用其它客观的量具或器具作为校正的依据，故以此种调整方式，该测试手臂1a仍有或多或少的误差存在，对其是否能符合较高精确度的标准，仍有待商榷。所以，由上可知，上述公知调整取置机测试手臂的方式，在实际使用上，显然不能达到较高的精确度要求，而有待加以改善。于是，本技术人有感上述缺陷的可改善性，特潜心研究并配合学理运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本技术。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种取置机测试手臂的调整治具，解决公知的测试手臂在吸取集成电路时无法确保其是否在水平状态，因此在精确度不高的情况下，避免会损坏受检测的集成电路。因此，须以更客观的量具或器具作为校正依据，并同时完成该测试手臂的对位工作，以减轻操作者的负担及繁复的程序。为了实现上述的目的，本技术提供一种取置机测试手臂的调整治具，是用以校正测试手臂而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台上的测试基板作对位。该调整治具包括一本体及至少一第一对位结构；其中，该本体的顶部呈一平整面，以作为水平校正，而该第一对位结构则设于该平整面上，并与测试手臂基座的第二对位结构相配合，以供该测试手臂对位，进而实现上述目的。附图说明图1是公知测试手臂的分解示意图；图2是公知测试手臂的使用状态示意图；图3是公知测试基板的俯视图；图4是公知测试手臂的基座俯视图；图5是本技术调整治具的立体图；图6是本技术调整治具置于测试手臂与平台之间的分解示意图；图7是本技术调整治具置于测试手臂与平台之间的测量状态示意图；图8是本技术调整治具置于测试手臂与平台之间的组合示意图；图9是本技术调整治具另一实施例的立体图；图10是本技术调整治具另一实施例置于测试手臂与平台之间的测量状态示意图。图中标记分别为公知部分1a 测试手臂10a 基座11a 取置头12a 扣具13a 对位结构14a 定位柱 15a 定位孔16a 框体17a 校正杆18a 底面2a 平台20a 测试基板21a 座体22a 置放空间23a 校正孔24a 护套本技术部分1测试手臂10 基座11 第二对位结构12 定位柱 13 圆孔2平台20 锁设组件 3 调整治具30 本体31 第一对位结构32 平整面 33 锁设孔34 定位孔 35 圆形件36； 量规该第一对位结构31至少包含两定位孔34，并可在孔的外缘施以倒角，该两定位孔34分别与基座10底面的两定位柱12(即凸出的第二对位结构11)相对且可供其嵌入，因而能作为该测试手臂1的对位基准，且该第一对位结构31还可增设为多数个。如此，即可供更多的测试手臂1一并作校正及对位，并得以在检验集成电路(图略)时，使该等测试手臂1同时作检验，以提高工作效率。可在该本体30的两定位孔34之间的中央处增设一凸出的圆形件35。请一并参阅图4所示，由于测试手臂1的基座10底面中心处凹设有一圆孔13，故可通过该圆孔13与圆形件35的配合作先行的定位，然后再调整该测试手臂1的基座10，以使其两定位柱12可顺利嵌入定位孔34中，以增加操作者作对位工作时的便利性。然而，若在该本体30的平整面32上凸起该圆形件35，则在制造上容易影响该平整面32的精密度而使其不易加工或精密度较差，故该圆形件35可以是一栓头呈圆形的螺栓，以螺设于本体30上。该两定位孔34其中之一可呈椭圆形，如此，当测试手臂1的基座10与该调整治具3作对位时，若定位孔34与定位柱12配合的裕度尺寸过小的情况下，则仍可通过该呈椭圆形的定位孔34使定位柱12较易于嵌入，故也可提供操作者在对位时的便利性。但另一定位孔34的精度须相当精准，以避免误差过大而丧失对位效果。所以，通过上述的构造组成，即可得到本技术取置机测试手臂的调整治具。请参阅图6、图7及图8，分别是本技术置于测试手臂与平台之间的分解示意图、测量状态示意图及组合示意图。该调整治具3是用以校正测试手臂1而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台2上的测试基板(图略)作对位；其校正方法的步骤如下(a)将上述具有平整面32的调整治具3由平台2的下方向上顶入，并使该调整治具3上的该等锁设孔33与平台2相配合。再通过该等锁设组件20分别穿入锁设孔33后稳固锁设，以使该调整治具3置于该测试手臂1的基座10与平台2之间； (b)利用手动的方式移动该测试手臂1，以使其基座10上的两定位柱12分别嵌入该调整治具3的两定位孔34内，并使该测试手臂1的基座10与调整治具3的平整面32贴平；(c)一边利用量规36来测量基座10与平整面32贴平时其外缘的密着度，一边调整该测试手臂1的误差量，直至基座10完全与平整面32密着为止，以完成水平校正工作；另外，该量规36是厚薄规，而上述该基座10与平整面32所谓的密着，以该厚薄规的测量端是否能插入基座10与平整面32之间的细缝来确认其是否密着；举例来说，若以测量端为0.1mm的厚薄规来测量，当厚薄规可插入时，即表示此细缝仍大于0.1mm而未呈密着状态，反之，当厚薄规无法本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种取置机测试手臂的调整治具，用以置于测试手臂基座与平台之间，其特征在于：包括：一本体，顶部呈平整面，以作为水平之校正；一第一对位结构，设于该平整面上，并与测试手臂基座的第二对位结构相配合，以供该测试手臂对位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王振芳，叶时汉，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]