液晶显示元件的测试方法技术

用电子束（７）扫描不可能用一般方法进行处理的液晶显示半成品的图象电极，以便测试有关的开关元件（１３，２０）。在不同类型的液晶显示半成品中，可用激光束（５）照射开关元件（２３，２４）来监控这些开关元件的质量。（*该技术在2008年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试一部分显示器件的方法，该部分显示器包括一个在至少一激励线路和部分待形成的象素之间的开关元件，该方法的特点在于，用能束扫描开关元件或待形成的象素的部分。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗伯特阿诺德哈特曼，汉斯彼得佩洛石克，
申请(专利权)人：菲利浦光灯制造公司，零，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]