【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种用于测量超快变电场和光脉冲随时间变化的测量系统。已有技术中，美国专利文献4472053叙述了一种测量系统是由短脉冲发射光源(也是被测量的光脉冲信号)，扩束器、微分时间延迟单元，成像系统、分束器，分成的两束光分别通过空间反转器和可变时间延迟补偿器，非线性介质和探测显示装置。这种测量系统只能用来测量光脉冲的持续时间，而不能测量电脉冲(即超快变电场)。本专利技术的目的是提供一种能够测量超快变电场随时间的变化，也可以测量光脉冲随时间的变化，测量的时间分辨率高于10-12秒的测量系统。本专利技术的测量系统由这九个部分超短脉冲发射光源、扩束器、微分时间延迟器、聚焦系统、电光开关、成像系统、探测显示装置、被测脉冲信号和同步装置组成。它的特征是在聚焦系统和成像系统之间，放入由起偏振器，普克尔盒和检偏振器组成的电光开关，被测量的脉冲信号加在电光开关上。由超短脉冲发射光源发射的光脉冲是做为测量系统的基础光束。由同步装置控制，当基础光束的光脉冲刚好到达普克尔盒的同时将被测脉冲信号加于普克尔盒内。由超短脉冲发射光源发射的基础光束经过扩束器横向扩束后，照射到微分时间延迟器上，...
【技术保护点】
一种用于测量超快变电场的测量系统，由超短脉冲发射光源、扩束器、微分时间延迟器，成像系统和探测显示装置组成，其特征在于聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关，被测脉冲信号加在电光开关上，超短脉冲发射光源发射的光脉冲作为基础光束，由同步装置控制基础光束的光脉冲到达普克尔盒的同时将被测脉冲信号加于普克尔盒内。
【技术特征摘要】
1.一种用于测量超快变电场的测量系统，由超短脉冲发射光源、扩束器、微分时间延迟器，成像系统和探测显示装置组成，其特征在于在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关，被测脉冲信号加在电光开关...
【专利技术属性】
技术研发人员：高福源，陈淑琴，支婷婷，陈兰荣，邱佩华，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。