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本发明提供一种超快变电场的测量系统。其特征是在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关。被测脉冲信号加在电光开关上。超短脉冲发射光源发射一束光脉冲作为基础光束,由同步装置控制基础光束光脉冲和被测脉冲信号在电光开...该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。
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本发明提供一种超快变电场的测量系统。其特征是在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关。被测脉冲信号加在电光开关上。超短脉冲发射光源发射一束光脉冲作为基础光束,由同步装置控制基础光束光脉冲和被测脉冲信号在电光开...