借助法拉第效应测量磁场的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种借助于法拉第效应测量磁场的方法；其中，光线被耦合进设置在磁场中的一法拉第元件（４）中，该光线包含具有第一波长的线性偏振的第一光线分量（Ｐａ）和具有与第一波长不同的第二波长的非偏振的第二光线分量（Ｐｂ）。光线信号从法拉第元件（４）里面耦出，该光线信号在光学技术上被分成具有第一波长的第一光线信号分量（ＬＳａ）和具有第二波长的第二光线信号分量（ＬＳｂ），并由第一光线信号分量（ＬＳａ）导出第一测量信号（Ｓａ），由第二光线信号分量（ＬＳｂ）导出第二测量信号（Ｓｂ），这些测量信号被用来生成一修正测量信号（Ｓ）。用这种方法可以在测量随时间恒定不变的磁场或具有随时间恒定不变分量的磁场时在很大程度上补偿在传输线路中的衰减影响。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种借助于法拉第效应测量磁场，尤其是用于测量在导线中流动的电流的方法和装置。利用法拉第效应测量在导线中流动的电流的光学测量装置已为公众所知，这种装置也被称作磁光电流互感器。根据法拉第效应，在介质中传输的线性偏振光的偏振面当存在磁场时将发生偏转。在此偏转的角度与以Verdet常数作为比例常数的沿着光线经过路径的磁场积分成比例。Verdet常数与光线传输的材料有关，与波长有关并与其它的影响材料特性的干扰因素，例如温度和机械应力状态有关。为了测量电流，法拉第元件设置在电流导线附近，该元件包括一个光学上透明的、能显示法拉第效应的材料。线性偏振光被耦合进这个法拉第元件。由电流产生的磁场使得在法拉第元件中传输的光线的偏振面偏转一个偏振旋转角，该角度可以被用来由计算单元计算出磁场强度的大小并可以由此计算出电流的强度。通常情况下法拉第元件包围电流导线，使得偏振光线在实际上封闭的路径中环绕电流导线。由此偏振转角的数值非常近似于直接与电流强度成正比。在例如由欧洲专利文献088419所公知的实施例中，法拉第元件由围绕电流导线的实心玻璃环构成。在这个实施例中光线环绕电流导线一圈。在另一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种借助于法拉第效应测量磁场的方法，其中，光线被耦入设置在磁场中的法拉第元件（４）内，该光线含有具有第一波长的线性偏振的第一光线分量（Ｐａ）和具有与第一波长不同的第二波长的非偏振的第二光线分量（Ｐｂ），由法拉第元件（４）耦出的光线信号由此在光学技术上被分成具有第一波长的第一光线信号分量（ＬＳａ）和具有第二波长的第二光线信号分量（ＬＳｂ），并由第一光线信号分量（ＬＳａ）导出第一测量信号（Ｓａ），由第二光线信号分量（ＬＳｂ）导出第二测量信号（Ｓｂ），这些测量信号被用来生成一修正测量信号（Ｓ）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：奥特马贝耶尔，托马斯博塞尔曼，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]