利用不同波长的光信号光学地测量电流的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种以扩大的测量范围光学地测量电流（Ｉ）的方法和装置。为此，两个具有不同波长（λ１，λ２）的光信号（Ｌ１，Ｌ２）通过一个法拉第元件（１０），其中，两个光信号（Ｌ１，Ｌ２）的偏振面根据电流（Ｉ）分别偏转至少０．００１４°／Ａ。通过考虑这两个由波长所决定的偏振转角，其中至少有一个偏振转角位于单值性范围，所述测量范围将明显地超出这两个光信号（Ｌ１，Ｌ２）中的任一个的单值性范围。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于光学地测量电流的方法，其中至少产生具有第一偏振和第一波长的第一椭圆偏振光信号以及产生具有第二偏振和与第一波长不同的第二波长的第二椭圆偏振光信号，第一和第二光信号输送给法拉第元件，在透穿法拉第元件时第一偏振和第二偏振根据电流而变化，由两个光信号的偏振变化导出电流的测量信号。此外本专利技术还涉及用于光学地测量导线中电流的装置，该装置包括至少一个用于至少产生具有第一偏振和第一波长的第一椭圆偏振光信号以及具有第二偏振和与第一波长不同的第二波长的第二椭圆偏振光信号的发送器件、一个与导线相匹配的被第一和第二光信号透穿的法拉第元件、以及一个用于由第一和第二偏振的变化导出被测量电流的测量信号的分析单元。其中，法拉第元件根据被测量电流并根据由波长所决定的有效费尔德特常数使第一和第二偏振发生变化。这种方法和这种装置例如由WO98/38517A1和JP5-264608A2为公众所知。在WO98/38517A1中描述了用于测量电流的装置，在这个装置中产生具有不同波长的两个光信号并通过一个耦合器将它们输入光波导线中。光波导线作为通到法拉第元件的公共导线。在进入法拉第元件之前两个光信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学地测量电流（Ｉ）的方法，其中 －至少产生具有第一偏振和第一波长（λ１）的第一椭圆偏振光信号（Ｌ１）以及具有第二偏振和与第一波长（λ１）不同的第二波长（λ２）的第二椭圆偏振光信号（Ｌ２）， －第一和第二光信号（Ｌ１，Ｌ２）被输送进一个法拉第元件（１０）， －第一和第二偏振在光信号透穿法拉第元件（１０）时根据电流（Ｉ）而变化， －由两个光信号（Ｌ１，Ｌ２）的偏振变化导出电流（Ｉ）的测量信号（Ｍ）， 其特征在于， －第一和第二偏振对于每安培被测量电流（Ｉ）偏转至少０．００１４°， －两个偏振中的至少一个在最大被测量电流（Ｉ）影响下偏转超过４５°。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔威尔希，托马斯博塞尔曼，斯蒂芬莫尔，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]