信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪制造技术

技术编号:3804906 阅读:192 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪,该分析仪包括激光器、样品放置位、光传输部件、单色仪及信号处理装置,激光器朝向样品放置位,在单色仪末端设有射出缝,在单色仪内设有分束片,在射出缝处设有光电转换元件,光电转换元件与信号处理装置电气连接;其中设于所述单色仪末端的所述射出缝为两个,两个射出缝轴线的夹角为直角,所述分光束设于两个射出缝的夹角处;在两个射出缝处均设有光电转换元件,两个光电转换元件均与所述信号处理装置电气连接。本发明专利技术能够实现快速检测分析,效率高,误差小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪
技术介绍
在原子光谱分析、应用光谱学、计量及检测等领域,经常需要用到对样品的元素及其 含量进行分析。传统的光谱分析方法有原子吸收光谱法、电感耦合等离子体-原子发射光 谱法、电感耦合等离子体-质谱分析法,传统的分析方法需要对样品进行前处理,因而无法 实现对样品的快速分析。随着技术的发展,现在已出现了一种激光诱导击穿光谱法,该方法是将脉冲高能激光 聚焦到样品的表面,在样品的表面产生高温等离子体,然后对等离子体中的原子辐射进行 光谱分析,从而检测出样品中相应原子及其含量。该分析方法相对于传统分析方法而言, 无须对样品进行前处理,现实了样品的快速分析,但现有的元素光谱分析仪仍存在如下不 足现有的元素光谱分析仪中的单色仪一次只能输出一个波长,也就是说,要么只能检测 信号,要么只能检测背景,因此想要知道信号和背景的强度,就需要做两次测量,这无疑 降低了工作效率,而且由于测量背景时的等离子体与测量信号时的等离子体之间也会存在 差异,也会带来测量时的误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪,本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪,包括激光器、样品放置位、光传输部件、单色仪及信号处理装置,激光器朝向样品放置位,在单色仪末端设有射出缝,在单色仪内设有分束片,在射出缝处设有光电转换元件,光电转换元件与信号处理装置电气连接;其特征在于,设于所述单色仪末端的所述射出缝为两个,两个射出缝轴线的夹角为直角,所述分光束设于两个射出缝的夹角处;在两个射出缝处均设有光电转换元件,两个光电转换元件均与所述信号处理装置电气连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周伦彬蔡永洪李润华赵芳周建英王自鑫
申请(专利权)人:广州市计量检测技术研究院华南理工大学中山大学
类型:发明
国别省市:81[中国|广州]

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