一种光纤长度测量方法技术

本发明专利技术涉及光纤长度测量技术领域，具体涉及一种光纤长度测量方法。所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；调节参考光路光束的光程；相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；获取合束后最大光功率对应的光程差；根据光程差获取待测光纤的长度。本发明专利技术的光纤长度测量方法成本低，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤长度测量方法
本专利技术涉及光纤长度测量
，具体涉及一种光纤长度测量方法。
技术介绍
光纤传输具有抗干扰能力强、损耗低、传输可靠性强等优点，因此光纤通信已成为现代通信网络的主要传输手段，被应用在日常生活的各个领域。一般情况下，光纤测试、光纤熔接、折射率测试等方面，都会涉及到光纤长度测量，可以说，光纤长度测量是实现光纤通信的一个重要的技术基础。目前，大多采用光纤长度测量仪来测量光纤长度，如，通过光学时域反射计OTDR、光学频域反射计OFDR、光学相干反射计OCDR等测量光纤长度，这些测量方式存在测量成本高、测量精度差等诸多缺陷，致使这些测量方式在实际应用中存在一定的局限性，因此，目前亟需一种新的光纤长度测量方案。干涉型光纤传感系统主要包括两部分：传感器和信号解调仪器。干涉型光纤传感器有：Fabry-Perot、Mach-Zehnder、Michelson、Sagnac等，待测量作用在干涉仪上时将对干涉仪产生相位调制，从干涉仪的输出干涉信号中解调出干涉仪的相位或相位变化，从而实现对被测物理量的测量。但光纤光路中使用单点本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤长度测量方法，其特征在于，所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：/n将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；/n调节参考光路光束的光程；/n相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；/n监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；/n获取合束后最大光功率对应的光程差；/n根据光程差获取待测光纤的长度。/n

【技术特征摘要】
20200630 CN 20201061541171.一种光纤长度测量方法，其特征在于，所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：
将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；
调节参考光路光束的光程；
相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；
监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；
获取合束后最大光功率对应的光程差；
根据光程差获取待测光纤的长...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐杰，方洋，绪海波，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44