用于集成电路测试的基于微处理器的探针制造技术

一种测试系统被配置为包括可编程集成电路，所述可编程集成电路耦合在自动测试设备（ＡＴＥ）和被测装置（ＤＵＴ）之间。所述可编程集成电路包括微处理器，将所述微处理器配置为接受相对高级的测试命令，并通常以调用预编译子程序或者宏指令的形式。基于这些高级测试命令，微处理器向被测装置提供测试激励，收集对应于这些测试激励的测试响应，并且为后续处理向ＡＴＥ设备提供未加工的或者处理后的测试响应。将协处理器及其他专用部件与所述微处理器连用，以便进一步地易于测试激励产生以及测试响应收集并且经由可编程集成电路进行处理。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

技术介绍
1.专利
本专利技术涉及集成电路
，具体来讲，涉及集成电路的测试。2.相关技术说明集成电路的测试、尤其是以高频进行的测试日益变得复杂，并因此而越发的昂贵。必须不断地升级测试设备，并且增强所述测试设备以使其包括能够测试通常具有最新的目前工艺水平的装置的能力。附图说明图1举例说明了一种示例性测试系统100，该系统包括自动测试设备(ATE)110，所述自动测试设备经由具有补偿电容器和电阻的探针板140与被测装置(DUT)150耦合。ATE 110通常包括一组核心测试部件120，诸如计算机、存储器和电源控制器，并且包括专用测试模块130，诸如音频模块、视频模块、RF测量装置、信号调节器、信号发生器以及电源管理器。在图1的例子中，系统100被配置为例如利用该组测试模块130中的专用音频与视频模块来测试高速的多媒体装置。如果将系统100用于测试通信装置，那么该组测试模块130例如可以包含离散傅里叶变换(DFT)模块及其他为通信装置所特有的模块。随着用于开发新装置150的技术的提高，必须升级测试模块130以便跟上这些进步。如同任何系统一样，ATE系统110具有有限的资源。例如，A本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试系统，包括：自动测试设备，所述自动测试设备包括：计算机，被配置为执行测试操作序列以测试被测装置，以及接口电路，可操作地与计算机耦合，将其配置为发送测试操作序列的至少一个测试命令，以及可编程集成 电路，可操作地与所述自动测试设备耦合并且紧靠被测装置，将所述可编程集成电路配置为接收测试命令，并且根据对应于测试命令的编程指令集、从其中生成至少一个测试信号，其中所述测试信号是发送给被测装置的。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：IWJM鲁特坦，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]