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一种测试系统被配置为包括可编程集成电路,所述可编程集成电路耦合在自动测试设备(ATE)和被测装置(DUT)之间。所述可编程集成电路包括微处理器,将所述微处理器配置为接受相对高级的测试命令,并通常以调用预编译子程序或者宏指令的形式。基于这些高...该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。
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一种测试系统被配置为包括可编程集成电路,所述可编程集成电路耦合在自动测试设备(ATE)和被测装置(DUT)之间。所述可编程集成电路包括微处理器,将所述微处理器配置为接受相对高级的测试命令,并通常以调用预编译子程序或者宏指令的形式。基于这些高...