用于测试集成电路的测试方法和测试装置制造方法及图纸

提供了用于测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置，其中，在测试装置中舍弃了在硬件技术上配备边界扫描单元。相反地，根据本发明专利技术通过边界扫描程序来模拟边界扫描单元。通过采用边界扫描程序来履行边界扫描单元链的和ＴＡＰ接口的全部功能性，该边界扫描程序通过可控制集成电路的、程控的控制装置来实施。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置。本专利技术的
涉及集成电路的边界扫描测试(边界扫描意味着“边界检查”)。边界扫描测试是一种用于测试复杂的数字电路的一般公开的技术。边界扫描测试实现了一种用于发现由制造决定的连接缺陷(由焊料搭接导致的短路或线路中断)的电检查方法。已开发了ANSI/IEEE标准1149.1，以便提供边界扫描测试的一种商业标准。该标准还受到了集成电路的制造商认可。按照附图说明图1的示意的电路框图示出了一种用于集成电路的边界扫描测试的一般公开的测试装置。通过创造虚拟的检查点，在根据IEEE1149.1标准所设计的测试装置TV中实现了对连接缺陷的测试。集成电路IC的每个外部端子I/O-PIN，在内部都配备有称为边界扫描单元BSC的简单的附加电路。将所有的边界扫描单元BSC串联地连接成一条链BSCC(边界扫描单元链)，该链包括了测试装置TV的整个的外部端子结构I/O-PIN。边界扫描法的实施假定了，测试装置TV拥有四个专门预留的控制插头和数据管脚。这是测试数据输入端TDI和测试数据输出端TDO，可以典型地为直至15MHz的测试时钟脉冲TCLK，和测试模式选择端子TMS。选择性地可以添加测试逻辑复位TRST作为第五管脚，用该测试逻辑复位TRST可以将扫描控制逻辑或边界扫描单元BSC的链BSCC转移到规定的状态下。这些管脚与跟集成电路IC的相应的线路(Verschaltung)有关的扫描逻辑，共同产生了测试接入端口TAP。对于边界扫描单元BSC，不利地在测试装置TV之内需要空间。在集成电路中，高的空间需求是与高的成本相联系的，使得在这里，趋势总是走向降低空间需求。如果减少了测试装置TV的空间需求，则也减小了测试装置TV的成本。集成电路测试的成本因此变得更低。因此本专利技术所基于的任务在于，为集成电路的测试节省空间。根据本专利技术，通过一种具有权利要求1的所述特征的测试方法，以及通过一种具有权利要求9的所述特征的测试装置来解决该任务。因此规定了用于根据边界扫描描述来测试集成电路的测试方法具有以下的步骤，所述边界扫描描述具有至少一个边界扫描程序、集成电路的硬件技术上的线路图、和测试样式(Testmuster)，其中，集成电路具有存储器和多个管脚，并且可以借助程控的控制装置进行控制-通过至少一个预先确定的管脚，将构成边界扫描单元链的模拟的边界扫描程序装载到存储器中；-读出所存储的边界扫描程序，并且启动所存储的边界扫描程序的实施；-对于相应于TAP接口的预先确定的管脚，根据边界扫描描述来施加测试样式；以及-分析在管脚上的、在实施所存储的边界扫描程序之后产生的状态(权利要求1)。尤其是用于运行所述测试方法的测试装置，-具有多个通过其根据边界扫描描述来施加测试样式的外部端子，其中，外部端子分别与集成电路的恰好一个管脚相连接；-具有集成电路，该集成电路具有将边界扫描程序装载到其中的存储器、和多个管脚；以及-具有程控的控制装置，该控制装置从存储器中读出边界扫描程序，启动该边界扫描程序的实施，以及读入在管脚上的在实施所存储的边界扫描程序之后所产生的状态，并且将结果输出到一个或多个管脚上(4)上。(权利要求9)本专利技术所基于的思想基本上在于，提供用于根据边界扫描描述来测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置，其中，舍弃了在硬件技术上配备边界扫描单元。相反地，根据本专利技术通过边界扫描程序来模拟边界扫描单元。通过采用边界扫描程序来履行边界扫描单元链的全部的功能性。预先确定的管脚同样履行了公开的TAP接口的功能性。通过取消硬件技术上的边界扫描单元，有利地节省了测试装置内的空间。集成电路的制造商通过空间节省极大的成本。此外，一种计算机程序属于本专利技术的范围，该计算机程序在计算机或计算机网络上执行时，本专利技术方法以其扩展方案来实施。此外，一种具有程序代码工具的计算机程序属于本专利技术的范围，以便当在计算机或计算机网络上实施该计算机程序时，本专利技术方法以它的扩展方案来执行。尤其是可以将程序代码工具存储在计算机可读取的数据载体上。此外，一种在其上存储了数据结构的数据载体属于本专利技术的范围，该数据结构在装载到计算机的或计算机网络的工作存储器和/或主存储器中之后，本专利技术方法可以按它的扩展方案来实施。一种具有存储在机器可读取的载体上的程序代码工具的计算机程序产品，也属于本专利技术的范围，以便当在计算机或计算机网络上实施该程序时，本专利技术方法以它的扩展方案来执行。在此，计算机程序产品应理解成作为可贸易的产品的程序。它原则上可以按任意的形式存在，因此例如存在于纸上或存在于计算机可读取的数据载体上，并且尤其是可以通过数据传输网来分发。在从属权利要求以及根据附图的说明中，可以获知本专利技术的有利的扩展方案和改进方案。根据一种优选的改进方案，根据边界扫描描述将测试样式施加到预先确定的管脚上包含将在预先确定的管脚上的、根据边界扫描描述的测试样式装载到存储器中，并且借助于边界扫描程序将借助所存储的测试样式规定的状态施加到管脚上。因此测试样式的状态不仅可以从外部通过外部端子和管脚来施加，而且也可以将测试样式装载到存储器中，并且借助边界扫描程序施加到管脚上。因此有利地设置了施加测试样式的确定状态的两种不同的可能性。根据另一优选的改进方案，按照IEEE 1149.1标准来构成边界扫描描述。该边界扫描描述因此具有常规的BSDL文件(边界扫描描述语言)的特征、以及本专利技术的边界扫描程序。根据另一优选的改进方案，与相应集成电路的硬件技术上的线路图和与边界扫描描述有关地，来构成边界扫描程序。根据另一优选的改进方案，借助边界扫描程序虚拟地模拟了根据IEEE 1149.1标准所规定的边界扫描单元。通过舍弃硬件技术上的边界扫描单元节省了硅面积并因此节省了成本。根据一种优选的扩展方案，通过分别量取在与预先确定地选出的管脚相耦合的检查点上的电位，来执行对管脚上的状态的分析。有利地采用外部端子，其中存在从外部通向所述外部端子的直接通道。有利地对于本专利技术测试方法不需要分别量取在所有管脚上的电位。根据另一优选的扩展方案，对于在管脚上的状态的分析，将要测试的集成电路，通过它的管脚与至少一个其它的集成电路，或与一个诸如电阻或线圈的模拟的透明的器件相耦合，并且然后通过与它耦合的其它的集成电路，或通过模拟的透明的器件，来确定在要测试的集成电路的管脚上的状态。根据本专利技术，所述其它的集成电路可以不具有或具有常规的边界扫描单元。通过连接多个集成电路，改善了测试可能性。根据另一优选的扩展方案，通过集成电路的同步的、异步的或总线接口(例如CAN总线接口)，将边界扫描程序装载到存储器中。以下借助在示意性附图中说明的实施例来详细阐述本专利技术。图1示出了用于测试集成电路的一般公开的测试装置的示意性电路框图；图2示出了用于测试集成电路的本专利技术测试装置的第一实施例的示意性电路框图；以及图3示出了用于测试集成电路的本专利技术测试方法的第一实施例的示意性流程图。在所有的附图中，相同的或功能相同的元素(只要未另作说明)配备了相同的附图标记。图2示出了用于测试集成电路的本专利技术测试装置的第一实施例的示意性电路框图。在测试装置5中设置了具有存储器3和许多管脚4的集成电路1。测试装置5还具有控制集成电路1的程控的控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于根据边界扫描描述来测试集成电路（１）的测试方法，所述边界扫描描述具有至少一个边界扫描程序、所述集成电路（１）的硬件技术上的线路图、和测试样式，其中，所述的集成电路（１）具有存储器（３）和多个管脚（４），并且借助程控的控制装置（２）可以进行控制，该测试方法具有以下的步骤：－将构成边界扫描单元链的模拟的边界扫描程序，通过至少一个预先确定的管脚（４）装载到所述的存储器（３）中；－读出所存储的边界扫描程序，和启动所存储边界扫描程序的实施；－将根据边界扫描描述的测试样式施加到预先确定的管脚（４）上；以及－分析在所述管脚（４）上的在实施所存储的边界扫描程序之后所产生的状态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：R布赫纳，C埃布纳，S莫泽尔，P劳舍尔，A福伊格特莱恩德，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]