【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置。本专利技术的
涉及集成电路的边界扫描测试(边界扫描意味着“边界检查”)。边界扫描测试是一种用于测试复杂的数字电路的一般公开的技术。边界扫描测试实现了一种用于发现由制造决定的连接缺陷(由焊料搭接导致的短路或线路中断)的电检查方法。已开发了ANSI/IEEE标准1149.1，以便提供边界扫描测试的一种商业标准。该标准还受到了集成电路的制造商认可。按照附图说明图1的示意的电路框图示出了一种用于集成电路的边界扫描测试的一般公开的测试装置。通过创造虚拟的检查点，在根据IEEE1149.1标准所设计的测试装置TV中实现了对连接缺陷的测试。集成电路IC的每个外部端子I/O-PIN，在内部都配备有称为边界扫描单元BSC的简单的附加电路。将所有的边界扫描单元BSC串联地连接成一条链BSCC(边界扫描单元链)，该链包括了测试装置TV的整个的外部端子结构I/O-PIN。边界扫描法的实施假定了，测试装置TV拥有四个专门预留的控制插头和数据管脚。这是测试数据输入端TDI和测试数据输出端TDO，可以典型地为直至15MHz...
【技术保护点】
用于根据边界扫描描述来测试集成电路（１）的测试方法，所述边界扫描描述具有至少一个边界扫描程序、所述集成电路（１）的硬件技术上的线路图、和测试样式，其中，所述的集成电路（１）具有存储器（３）和多个管脚（４），并且借助程控的控制装置（２）可以进行控制，该测试方法具有以下的步骤：－将构成边界扫描单元链的模拟的边界扫描程序，通过至少一个预先确定的管脚（４）装载到所述的存储器（３）中；－读出所存储的边界扫描程序，和启动所存储边界扫描程序的实施；－将根据边界扫描描述的测试样式施加到预先确定的管脚（４）上；以及－分析在所述管脚（４）上的在实施所存储的边界扫描程序之后所产生的状态。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：R布赫纳，C埃布纳，S莫泽尔，P劳舍尔，A福伊格特莱恩德，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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