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提供了用于测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置，其中，在测试装置中舍弃了在硬件技术上配备边界扫描单元。相反地，根据本发明通过边界扫描程序来模拟边界扫描单元。通过采用边界扫描程序来履行边界扫描单元链的和ＴＡＰ接口的全部功能性，该边界扫描程...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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