测试点得知对象制造技术

一种用于具有多个测试点的自动测试设备（ＡＴＥ）的方法，每个测试点分别容纳被测器件（ＤＵＴ），该方法包括：定义用于多个测试点的对象，其中该对象包括至少与多个测试点中的一些测试点相关的数据，而且该对象确定哪些测试点是激活的。该方法还包括在利用ＡＴＥ测试ＤＵＴ期间使用该对象。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般地涉及一种具有多个用于测试多个器件的测试点的自 动测试设备(ATE)，更具体地说，本专利技术涉及在测试多个器件的过程 中ATE使用的测试点得知对象(site-aware object)。
技术介绍
ATE指通常由计算机驱动的自动化方式的测试器件，例如，半导 体、电子电路以及印刷电路板组件。ATE测试的器件，例如半导体器 件，被称为被测器件(DUT)。当今的ATE支持多点测试。支持多点测试的ATE包括多个测试 槽，或"测试点"。将要测试的器件插入每个测试点内，ATE对测试 点内的器件执行其所需的测试。在测试中通常涉及计算机程序。无需 改变这些计算机程序中的代码而能测试在多个测试点中的器件的能力 被称为"测试点透明性"。更具体地说，测试点透明性指自动管理测 试点和测试点数据，使得用户几乎不用负责这种任务，以及几乎不需 要考虑其测试是多测试点的，直到被要求这样做。如果有效，用户将 不会一直意识到其编程的测试点维数。测试点透明性是ATE的一个显著优点，因为它允许用户配置多个 被测试的器件，而无需对测试程序代码做较大修改。
技术实现思路
本申请描述了包括用于实现测试点得知对象的计算机程序产品的 设备和方法。总之，在一个方面中，本专利技术涉及一种用于具有多个测试点的自动测试设备(ATE)的方法，其中每个测试点分别容纳被测器件(DUT)。该方法包括定义用于多个测试点的对象，其中该对象包括至少与多个测试点中的一些测试点相关的数据，而且其中该对象确定哪些测试点是激活的；以及在利用ATE测试DUT期间，使用该对象。该方面 还可以包括如下特征中的一个或者多个。ATE可以包括用于管理测试点的相关ATE软件测试点管理基础架 构(ATE software site management infrastructure)。 该对象可以与ATE 软件测试点管理基础架构通信，以确定哪些测试点是激活的。在测试 期间使用该对象可以包括如下之一个或者多个通过该对象对ATE编 程；将来自ATE的仪器读数存储在该对象中；利用该对象处理仪器读 数；以及将测试结果记录在该对象中。处理可以包括改变仪器读数和/ 或向测试子系统报告该读数。可以用编程语言定义该对象。编程语言可以象处理单个数据单元 一样处理该对象。该数据可以包括用于标识哪些测试点是激活的的布 尔数据。该数据可以包括引脚清单数据。该引脚清单数据可以包括对 应于至少一个DUT的各引脚的仪器测量值的引脚数据。可以用编程语言定义该对象，而且该方法还可以包括在该编程 语言中定义操作，其中该操作是该对象特有的。该操作可以包括对应 于对编程语言中的本地变量执行的数学运算的一种数学运算。总之，在另一个方面中，本专利技术涉及一种系统，该系统包括具有多个测试点的自动测试设备(ATE)，其中分别配置每个测试点以适应被测器件(DUT);以及与ATE通信的处理装置。该处理装置执行 指令，以便实施前述方面的方法。本方面还可以包括与前述方面相同 或者不同的特征。在下面的附图和说明书中详细描述了一个或者多个例子。根据说 明书、附图以及权利要求书，本专利技术的其他特征、方面以及优点将是 显而易见的。附图说明图1是ATE系统的方框图。图2是测试点得知对象的示意图。图3是在测试期间使用测试点得知对象的过程的流程图。 不同附图中同样的参考编号表示同样的单元。具体实施例方式图1示出测试多个DUT使用的系统10。系统10包括ATE 12。 ATE 12包括器件接口板(DIB) 14，用于将器件连接到ATE。 DIB 14 具有多个测试点16a至16d。 DUT可以插入每个测试点内，以便利用 ATE进行测试。尽管图1仅示出4个测试点，但是ATE 12可以包括任 意数量的测试点。此外，在图1所示的例子中，每个测试槽有一个DUT， 然而，并不要求所有测试点都被占据。每个DUT可以是利用ATE可以测试的任意类型的器件，其例子 包括但是并不局限于半导体器件和电子组件。ATE 12包括内部处理装置，例如，数字信号处理器(DSP) 18。 DSP 18可以执行全部或者部分ATE软件20，即，由可执行代码组成 的计算机程序，以测试测试点16a至16d内的DUT。可以将ATE软件 20存储在ATE 12上的存储器(未示出)内，也可以由诸如下面描述的计算机22的外部处理装置提供ATE软件20。 ATE软件20包括用于管 理测试点16a至16d的ATE软件测试点管理基础架构24。此外，ATE软件测试点管理基础架构对ATE软件20与测试点16a 至16d之间的信息交换进行控帝'j。该信息可以包括来自测试点内的DUT 的数据和/或者发送到测试点内的DUT的数据。发送到DUT的数据的 例子包括但是并不局限于诸如波形或者其他激励的测试数据以及ATE 软件20用于对DUT编程的配置数据(请注意，在一个实施例中，DSP 仅处理来自DUT的信号)。来自DUT的数据的例子包括但是并不局 限于测试点是否是激活的指示符以及来自测试点内的DUT的读数，包 括来自DUT内的各引脚的读数。请注意，如果该测试点是空的，则可 以认为该测试点不是激活的，这意味着，该测试点内的DUT已经完成 而且通过了所有必要测试，或者该DUT没有通过一个或者多个必要测 试。在这两种的任一种情况下，不再做进一步测试。作为一种选择， 如果测试点内没有DUT，或者如果运行测试的管理员关闭了测试点， 则可以认为该测试点不是激活的。ATE 12与计算机22通信。计算机22可以是任意类型的处理装置， 包括但是并不局限于常规个人计算机(PC)、台式机或者手持机、多 处理器计算机、基于微处理器的或者可编程的消费类电子装置、微型 计算机、大型计算机和/或个人移动计算装置。在图l所示的例子中， 计算机22包括一个或者多个被简称为"处理器26"的处理器和存储器 28。存储器28存储处理器26所执行以测试ATE 12内的DUT的测试 软件30。在测试期间，测试软件30与包括上面描述的ATE软件测试 点管理基础架构的ATE软件20交互。例如，通过指示ATE软件20 将测试数据提供给测试点16a至16d内的DUT并向测试软件30或者 指定的子系统报告这种测试结果，测试软件30可以控制测试。为此， 测试软件30可以生成一个或者多个图形用户界面(GUI)(未示出)， 通过该图形用户界面，管理员可以控制ATE 12的测试。 到目前为止，计算机22上的测试软件和被称为过程开发环境(PDE)的交互式图形环境相结合一起运行。PDE包括实现测试点透 明性的代码，因此使测试软件开发者能将注意力集中在过程流程上。 因此，所获得的测试软件依赖于PDE。然而，系统10不需要包括PDE。 相反，测试软件30利用测试点得知对象(下面将说明)在测试期间实 现测试点透明性。在本实施例中，以Visual Basic for Application (Visual Basic)编 写测试软件30。 Visual Basic是由被称为Basic的早期DOS版本演化来 的高级编程语言。Visual Basic是可视的而且是事件驱动编程语言。这 是它与早期Basic的主要区别。在Basic中是在纯文本环境下进行编程 并且程序是顺序执行的。在Visual Basic本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于具有多个测试点的自动测试设备（ＡＴＥ）的方法，每个所述测试点分别容纳被测器件（ＤＵＴ），该方法包括：定义用于所述多个测试点的对象，所述对象包括至少与所述多个测试点中的一些测试点相关的数据，所述对象确定哪些测试点是激活的；以及在利用所述ＡＴＥ测试ＤＵＴ期间，使用所述对象。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂芬J霍特亚克，兰德尔B斯廷森，丹尼尔P桑顿，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]