适配器、备有该适配器的接口装置及电子部件试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供的适配器（７）具有构架部件（７０１），该构架部件（７０１）夹设于形成在处理机的基部（１１）上的开口（１１ａ）和安装在测试头上并插入开口（１１ａ）的高精接口板（５）之间，使高精接口板（５）的形状与开口（１１ａ）的形状吻合。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及适配器、备有该适配器的接口装置及电子部件试验装置，在测试半导体集成电路元件等的被试验电子部件(下面称为IC)的电子部件试验装置中，上述适配器用于使装载在测试头上的接口装 置的形状适合于形成在处理机上的开口 。
技术介绍
在电子部件试验装置中，把收容在托盘上的多个IC运送到处理 机(Handler)内，使各IC与测试头側的接口装置备有的IC插座电 接触，用电子部件试验装置本体、即测试器(Tester)进行试验。而 后，试验结束后的各IC被分类到与试验结果的类目对应的用户托盘 内。测试头与形成在处理机上的开口机械地连接。在测试头的上部， 安装着高精接口板(八^7一 、乂夕7 )(接口装置)，该高精接口板用 于中继处理机侧的被试验IC与该测试头之间的电连接。高精接口板 根据所试验的IC品种或同时测定数目的不同而分别制造，供给使用。在近年来的电子部件试验装置中，同时测定数目(可同时地测试 被试验IC的数目)有朝着64个、128个、256个增加的倾向。为此， 即使将IC插座做成窄间距结构，高精接口板的外形尺寸也不能保持 原来的大小，形成在处理机上的开口有增大的倾向。因此，不同的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适配器，其特征在于，夹设于形成在处理机上的开口和安装在测试头上并插入上述开口的接口装置之间，使上述接口装置的形状与上述开口的形状吻合。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：高野大介，增尾芳幸，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]