【技术实现步骤摘要】
电路板测试装置及辅助测试电路板
本技术实施例涉及印制电路板
,尤其涉及一种电路板测试装置及辅助测试电路板。
技术介绍
在电路板制成后,通常需要对电路板的晶圆性能进行测试。使用较为广泛的电路板测试装置是93000型测试机。在使用93000型测试机对电路板进行测试时,需要用到辅助测试电路板和弹簧探针,辅助测试电路板上设置有测试孔,测试机的测试针和弹簧探针的测试针插入测试电路板的测试孔进行辅助测试,在电路板测试过程中,弹簧探针得电,在测试机、弹簧探针和辅助测试电路板的重合区域,容易发生短路故障。目前,可通过对辅助测试电路板的测试孔进行塞孔避免短路故障的发生,但是,采用了塞孔后,弹簧探针只能接触到辅助测试电路板的焊盘表面,容易发生接触不良导致测试电路开路。
技术实现思路
本技术提供一种电路板测试装置,以解决测试台、弹簧探针和辅助测试电路板重合区域易短路的问题,提高了测试效率。第一方面,本技术实施例提供了一种电路板测试装置,包括:测试台、辅助测试电路板和弹簧探针,所述辅助测试电路板设置在所 ...
【技术保护点】
1.一种电路板测试装置,其特征在于,包括:测试台、辅助测试电路板和弹簧探针,所述辅助测试电路板设置在所述测试台和所述弹簧探针之间,/n所述辅助测试电路板包括辅助测试基板和测试接点,所述测试接点为中空的孔;/n所述辅助测试基板包括顶层基板、底层基板和至少一层中间层基板,所述测试接点设置在所述顶层基板和所述底层基板上,所述顶层基板上的所述测试接点和所述底层基板上的所述测试接点在所述中间层基板上的投影重合,所述中间层基板在投影重合区域不导通。/n
【技术特征摘要】
1.一种电路板测试装置,其特征在于,包括:测试台、辅助测试电路板和弹簧探针,所述辅助测试电路板设置在所述测试台和所述弹簧探针之间,
所述辅助测试电路板包括辅助测试基板和测试接点,所述测试接点为中空的孔;
所述辅助测试基板包括顶层基板、底层基板和至少一层中间层基板,所述测试接点设置在所述顶层基板和所述底层基板上,所述顶层基板上的所述测试接点和所述底层基板上的所述测试接点在所述中间层基板上的投影重合,所述中间层基板在投影重合区域不导通。
2.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述测试台上设置有探针,所述底层基板朝向测试台,所述测试台的探针插入所述底层基板上的所述测试接点中。
3.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述顶层基板朝向弹簧探针,所述弹簧探针的第一端插入所述顶层基板上的所述测试接点中。
4.根据权利要求3所述的电路板测试装置,其特征在于,所述弹簧探针的第二端与被测电路板...
【专利技术属性】
技术研发人员:鞠文凯,张建军,
申请(专利权)人:晶测电子科技上海有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
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