一种COC芯片光谱测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种COC芯片光谱测试装置，包括温控测试台和光谱仪，所述温控测试台顶部设置有热沉，所述热沉顶部设置有工装，所述工装顶部设置有芯片，所述工装一侧设置有焊盘G，所述热沉顶部靠近所述焊盘G一侧设置有焊盘S。有益效果在于：本实用新型专利技术通过设置激励电源盒和射频探针，可实现电流调制和电压调制两种模式，提高了设备检测芯片的种类，同时通过激励电源盒模拟更多的使用应用情况，提高了产品的测试精度，降低了产品不良率。

【技术实现步骤摘要】
一种COC芯片光谱测试装置
本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种COC芯片光谱测试装置。
技术介绍
集成电路在最后封装之前要按照测试规范对电路成品进行全面的电路性能检测，目的是挑选出合格的成品，光谱分析根据物质的光谱来鉴别物质及确定它的化学组成和相对含量，其优点是灵敏，迅速，根据分析原理光谱分析可分为发射光谱分析与吸收光谱分析二种，根据被测成分的形态可分为原子光谱分析与分子光谱分析，光谱分析的被测成分是原子的称为原子光谱,被测成分是分子的则称为分子光谱。在常见的芯片测试设备中，设备所能模拟的实际应用场景较少，导致降低了对芯片的测试准确度，增加了产品的不良率。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为了克服现有技术不足，现提出一种COC芯片光谱测试装置，解决现有常见的芯片测试设备中，设备所能模拟的实际应用场景较少，导致降低了对芯片的测试准确度，增加了产品的不良率的问题。(二)技术方案本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种COC芯片光谱测试装置，包括温控测试台和光谱仪，所述温控测试台顶部设置有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种COC芯片光谱测试装置，其特征在于：包括温控测试台(1)和光谱仪(10)，所述温控测试台(1)顶部设置有热沉(2)，所述热沉(2)顶部设置有工装(3)，所述工装(3)顶部设置有芯片(4)，所述工装(3)一侧设置有焊盘G(5)，所述热沉(2)顶部靠近所述焊盘G(5)一侧设置有焊盘S(6)，所述焊盘G(5)和焊盘S(6)一侧均设置有电动推杆(12)，所述电动推杆(12)上设置有射频探针(7)，所述电动推杆(12)远离所述焊盘G(5)一侧设置有激励电源盒(14)，所述温控测试台(1)顶部一角处设置有操作面板(13)，所述热沉(2)一侧设置有透镜(11)，所述温控测试台(1)一侧壁上设置有光端...

【技术特征摘要】
1.一种COC芯片光谱测试装置，其特征在于：包括温控测试台(1)和光谱仪(10)，所述温控测试台(1)顶部设置有热沉(2)，所述热沉(2)顶部设置有工装(3)，所述工装(3)顶部设置有芯片(4)，所述工装(3)一侧设置有焊盘G(5)，所述热沉(2)顶部靠近所述焊盘G(5)一侧设置有焊盘S(6)，所述焊盘G(5)和焊盘S(6)一侧均设置有电动推杆(12)，所述电动推杆(12)上设置有射频探针(7)，所述电动推杆(12)远离所述焊盘G(5)一侧设置有激励电源盒(14)，所述温控测试台(1)顶部一角处设置有操作面板(13)，所述热沉(2)一侧设置有透镜(11)，所述温控测试台(1)一侧壁上设置有光端机(8)，所述光端机(8)一侧壁上设置有光纤(9)，所述光纤(9)一端设置有所述光谱仪(10)。


2.根据权利要求1所述的一种COC芯片光谱测试装置，其特征在于：所述热沉(2)与所述温控测试台(1)通过螺栓连接，所述工装(3)与所述热沉(2)电连接。

...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振峰，杨国良，邱德明，
申请(专利权)人：武汉盛为芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42