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本实用新型公开了一种COC芯片光谱测试装置，包括温控测试台和光谱仪，所述温控测试台顶部设置有热沉，所述热沉顶部设置有工装，所述工装顶部设置有芯片，所述工装一侧设置有焊盘G，所述热沉顶部靠近所述焊盘G一侧设置有焊盘S。有益效果在于：本实用新型...
该专利属于武汉盛为芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉盛为芯科技有限公司授权不得商用。

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