一种芯片测试探针装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试探针装置，包括底座、步进电机和导向杆，所述底座上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机，所述步进电机的传动输出端通过键连接有丝杆，所述丝杆一侧设置有与所述底座插接的所述导向杆，所述导向杆上滑动连接有升降板。有益效果在于：本实用新型专利技术通过设置步进电机、丝杆、导向杆和升降板，使探针电路板可快速进行升降，进而使测试探针能够快速与芯片接触，提高测试效率，通过设置探针电路板和固定块，使装置一次可通过多根测试探针对芯片进行多点测试，测试效率更高，十分实用。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试探针装置
本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种芯片测试探针装置。
技术介绍
芯片(chip)在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管，成本低、性能高的芯片也就逐步应用的越来越广泛，芯片在制造过程中需要使用测试探针进行测试，以保证芯片品质符合生产需求。现有的芯片测试探针装置在测试芯片时，探针移动效率较低，使装置测试效率较低，而且现有的芯片测试探针装置难以对芯片进行多点测试，测试效率较低，实用性不足。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为了克服现有技术不足，现提出一种芯片测试探针装置，解决了现有的芯片测试探针装置在测试芯片时，探针移动效率较低，使装置测试效率较低的问题。(二)技术方案本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种芯片测试探针装置，包括底座、步进电机和导向杆，所述底座上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机，所述步进电机的传动输出端通过键连接有丝杆，所述丝杆一侧设置有与所述底座插接的所述导向杆，所述导向杆上滑动连接有升降板。进一步的，所述底座上端中部成型有滑轨，所述滑轨内设置有IPT帽杆，所述IPT帽杆上端设置有芯片，所述底座上端四角处设置有支撑杆，所述支撑杆上端设置有顶板，所述升降板下端中部设置有探针电路板，所述探针电路板下端中部设置有固定块，所述固定块下端设置有测试探针。通过采用上述技术方案，所述步进电机在工作时可带动所述丝杆进行转动，由于所述丝杆与所述升降板通过螺纹连接，这样在所述丝杆转动时，所述升降板在所述导向杆的辅助下可进行升降，这样所述探针电路板也可进行升降。进一步的，所述丝杆与所述顶板通过轴承连接，所述丝杆与所述升降板通过螺纹连接。进一步的，所述导向杆与所述顶板插接，所述IPT帽杆与所述滑轨滑动连接，所述芯片与所述IPT帽杆搭接。通过采用上述技术方案，所述IPT帽杆可被送料机构或其他设备推动在所述滑轨上进行移动。进一步的，所述支撑杆与所述底座焊接，所述支撑杆与所述顶板焊接。进一步的，所述探针电路板与所述升降板通过螺钉连接。通过采用上述技术方案，所述探针电路板可与与所述升降板同步进行升降，这样所述测试探针也可与所述升降板同步进行升降。进一步的，所述固定块与所述探针电路板以及所述测试探针均为粘接，所述测试探针与所述探针电路板焊接。通过采用上述技术方案，所述测试探针的数量可根据测试需要进行设置，当所述IPT帽杆携带芯片移动至所述探针电路板下方时，所述步进电机工作通过所述丝杆带动所述升降板下移，使所述测试探针与所述芯片接触，这样所述测试探针可对所述芯片进行多点测试，十分高效。(三)有益效果本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：1、为解决现有的芯片测试探针装置在测试芯片时，探针移动效率较低，使装置测试效率较低的问题，本技术通过设置步进电机、丝杆、导向杆和升降板，使探针电路板可快速进行升降，进而使测试探针能够快速与芯片接触，提高测试效率；2、为解决现有的芯片测试探针装置难以对芯片进行多点测试，测试效率较低的问题，本技术通过设置探针电路板和固定块，使装置一次可通过多根测试探针对芯片进行多点测试，测试效率更高，十分实用。附图说明图1是本技术所述一种芯片测试探针装置的结构示意图；图2是本技术所述一种芯片测试探针装置中升降板和探针电路板的连接关系示意图；图3是本技术所述一种芯片测试探针装置中探针电路板的仰视图。附图标记说明如下：1、底座；2、步进电机；3、丝杆；4、导向杆；5、升降板；6、滑轨；7、IPT帽杆；8、芯片；9、支撑杆；10、顶板；11、探针电路板；12、固定块；13、测试探针。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图1-图3所示，本实施例中的一种芯片测试探针装置，包括底座1、步进电机2和导向杆4，底座1上端一侧通过螺栓连接有步进电机2，步进电机2的传动输出端通过键连接有丝杆3，丝杆3一侧设置有与底座1插接的导向杆4，导向杆4上滑动连接有升降板5，底座1上端中部成型有滑轨6，滑轨6内设置有IPT帽杆7，IPT帽杆7上端设置有芯片8，底座1上端四角处设置有支撑杆9，支撑杆9上端设置有顶板10，升降板5下端中部设置有探针电路板11，探针电路板11下端中部设置有固定块12，固定块12下端设置有测试探针13，步进电机2在工作时可带动丝杆3进行转动，由于丝杆3与升降板5通过螺纹连接，这样在丝杆3转动时，升降板5在导向杆4的辅助下可进行升降，这样探针电路板11也可进行升降，丝杆3与顶板10通过轴承连接，丝杆3与升降板5通过螺纹连接，导向杆4与顶板10插接，IPT帽杆7与滑轨6滑动连接，芯片8与IPT帽杆7搭接，IPT帽杆7可被送料机构或其他设备推动在滑轨6上进行移动，支撑杆9与底座1焊接，支撑杆9与顶板10焊接，探针电路板11与升降板5通过螺钉连接，探针电路板11与升降板5可同步进行升降，这样测试探针13也可与升降板5同步进行升降，固定块12与探针电路板11以及测试探针13均为粘接，测试探针13与探针电路板11焊接，测试探针13的数量可根据测试需要进行设置，当IPT帽杆7携带芯片8移动至探针电路板11下方时，步进电机2工作通过丝杆3带动升降板5下移，使测试探针13与芯片8接触，这样测试探针13可对芯片8进行多点测试，十分高效。如图1-图3所示，本实施例中，步进电机2在工作时可带动丝杆3进行转动，由于丝杆3与升降板5通过螺纹连接，这样在丝杆3转动时，升降板5在导向杆4的辅助下可进行升降，这样探针电路板11也可进行升降，进而使测试探针13能够快速与芯片8接触，十分高效。如图1-图3所示，本实施例中，探针电路板11和固定块的设置，使装置一次可通过多根测试探针13对芯片8进行多点测试，效率更高，十分实用。本实施例的具体实施过程如下：装置使用外接电源，且被外部设备控制，IPT帽杆7可被送料机构或其他设备推动在滑轨6上进行移动，当IPT帽杆7携带芯片8移动至探针电路板11下方时，步进电机2工作带动丝杆3进行转动，由于丝杆3与升降板5通过螺纹连接，这样在丝杆3转动时，升降板5在导向杆4的辅助下可进行升降，这样探针电路板11也可进行升降，使测试探针13与芯片8接触，这样测试探针13可对芯片8进行多点测试，十分高效。上面所述的实施例仅仅是对本技术的优选实施方式进行描述，并非对本技术的构思和范围进行限定。在不脱离本技术设计构思的前提下，本领域普通人员对本技术的技术方案做出的各种变型和改进，均应本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试探针装置，其特征在于：包括底座(1)、步进电机(2)和导向杆(4)，所述底座(1)上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机(2)，所述步进电机(2)的传动输出端通过键连接有丝杆(3)，所述丝杆(3)一侧设置有与所述底座(1)插接的所述导向杆(4)，所述导向杆(4)上滑动连接有升降板(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试探针装置，其特征在于：包括底座(1)、步进电机(2)和导向杆(4)，所述底座(1)上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机(2)，所述步进电机(2)的传动输出端通过键连接有丝杆(3)，所述丝杆(3)一侧设置有与所述底座(1)插接的所述导向杆(4)，所述导向杆(4)上滑动连接有升降板(5)。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试探针装置，其特征在于：所述底座(1)上端中部成型有滑轨(6)，所述滑轨(6)内设置有IPT帽杆(7)，所述IPT帽杆(7)上端设置有芯片(8)，所述底座(1)上端四角处设置有支撑杆(9)，所述支撑杆(9)上端设置有顶板(10)，所述升降板(5)下端中部设置有探针电路板(11)，所述探针电路板(11)下端中部设置有固定块(12)，所述固定块(12)下端设置有测试探针(13)。


3.根据权利要求2所述的一种芯片测试探针装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振峰，杨国良，邱德明，
申请(专利权)人：武汉盛为芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42