光学检测模块制造技术

一种光学检测模块，至少包括：光源、透反射元件、反射元件以及影像感测组件，其中从光源所射出的光线穿透该透反射元件而到达平面待测物，使平面待测物反射影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件进一步反射至所述反射元件，再经由所述反射元件导引至影像感测组件。该光学检测模块可有效解决现有技术中拍摄影像的质量受限以及影像感测组件架设位置受限的问题。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学检测模块，特别是一种用以检查平面物体外观的光学检测模块。现有技术在面板的检测过程中，除了检查面板是否有正常操作之外，还须查看面板是否有瑕疵存在或有无附着尘埃等，图1所示为一种现有面板的光学检测模块的示意图。如图所示，光学检测模块10包括光源12、透反射(transflective)镜14及CCD 16，该CCD 16设置于待测面板18上方，透反射镜14设置于面板18及CCD 16之间，光源12设置于透反射镜14的一侧，其中光源12所射出的光线121部分经由透反射镜14反射至面板18，使面板18反射一影像光路20且穿透透反射镜14至CCD 16，通过CCD 16来拍摄面板18的表面影像。然而在这种设计的光学检测模块10中，由于面板18所反射的影像光路20须穿透透反射镜14才能到达CCD 16，因此到达CCD 16的光学影像质量有限，无法达到有效检查的效果。图2所示为现有的另一种面板之光学检测模块的示意图，如图所示，透反射镜14设置于待测面板18及光源12之间，而CCD 16则设置于透反射镜14的一侧，其中光源12所射出的光线121部分穿透透反射镜14至面板1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学检测模块，用于对平面待测物进行光学取像，其特征在于，该光学检测模块包括：　光源，该光源用以射出光线；　透反射元件，该透反射元件设置于所述平面待测物与所述光源之间，且呈第一直线排列；　反射元件，该反射元件离开该第一直 线排列，并与所述透反射元件间隔固定距离；以及　影像感测组件，该影像感测组件与所述反射元件呈第二直线排列，其中，从所述光源射出的光线透射穿过所述透反射元件到达所述平面待测物，使所述平面待测物反射一影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反 射元件将该影像光路反射至所述反射元件，再经由所述反射元件将该影像光路导引至所述影像感测组件。

【技术特征摘要】
1.一种光学检测模块，用于对平面待测物进行光学取像，其特征在于，该光学检测模块包括：光源，该光源用以射出光线；透反射元件，该透反射元件设置于所述平面待测物与所述光源之间，且呈第一直线排列；反射元件，该反射元件离开该第一直线排列，并与所述透反射元件间隔固定距离；以及影像感测组件，该影像感测组件与所述反射元件呈第二直线排列，其中，从所述光源射出的光线透射穿过所述透反射元件到达所述平面待测物，使所述平面待测物反射一影像光路至所述透反射元件，再经由所述透反射元件将该影像...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜智杰，
申请(专利权)人：晶彩科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]