复合检测条件的光学影像自动撷取方法技术

本发明专利技术旨在揭露一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其运用取像装置及光源的互相搭配而进行待测物的光学影像撷取作业，以在不同波段的光线照射下，有效取得良/劣品的检测结果，进而提升检测效率。

Automatic extraction of optical image based on complex detection conditions

【技术实现步骤摘要】
复合检测条件的光学影像自动撷取方法
本专利技术有关于一种检测方法，其尤指一种透过复合检测条件进行光学影像自动撷取的方法。
技术介绍
生产在线完成的产品，早期采用人工检测的方式进行质量控管。由于人眼的视觉感受有其局限性，以致会有主观认知差异，例如无法详细判断快速移动、微米至奈米级精细尺寸的产品中的缺陷，或者是外部检测环境、产品本身的特殊条件对于光谱的可见区域的限制，造成无法确切于人眼内呈现产品中的缺陷。后来发展出以人工搭配仪器的方式进行品管作业，然而，因检测人员的生理状态抑或是操作仪器不当等疏失，亦常发生漏检问题。现今，拜科技进步所赐，机器视觉检测方法取代人眼视觉检测的时代已来临，各领域的业界开始启用自动检测方式取代人工检测。自动检测方式一方面除了可以减少大量人力之外，同时亦得以克服大部分的检测条件，将检测精度、检测速度一并提升，进而改善习知采用人力检测所产生的缺失，在检测效果上具有相当的客观性及泛用性。而对于平面产品的检测，如印刷电路板(Printedcircuitboard,PCB)、显示面板(DisplayPanel)或玻璃(Glass)等，产业上即有运用机器视觉中，非接触方式的光学技术予以检测者。以印刷电路板为例，在该领域中，自动光学检测为制程上常见的代表性手法，习知做法为利用不同方向或光线强度不同的光源对印刷电路板进行照射，以使影像产生色阶的差异进行影像撷取，再透过数据资料库中符合合格产品的图式、参数，与撷取到的该印刷电路板的影像进行分析、比对。承接前段，印刷电路板的检测过程中，采用不同强度或不同方向发射的光线予以照射后，仅能取得该印刷电路板在该光线下的色阶差异表现，而无法确实获取在其他光学条件下所能显示的瑕疵辨识信息。例如，施以反射光，可检测该印刷电路板的刮痕，却无法检测其有无破洞；施以穿透光，则可检测该印刷电路板的破洞，而无法检测其是否有刮痕。同理，以不同方向的光源先后分别照射印刷电路板，再先后进行影像撷取，其所取得的图像分析虽足以有效辨识缺陷存在的信息，但却须耗费较多时间。例如，先施以反射光扫描检测该印刷电路板的刮痕，其后施以穿透光，接着扫描检测该印刷电路板的破洞，此使得扫描检测所需时间耗费至少两倍的时间。职是之故，本专利技术人鉴于上述所衍生的问题，本于专利技术改良的意念，着手研发解决方案，经多时的构思而有本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法产生，以服务社会大众及促进产业的发展。
技术实现思路
本专利技术的一目的提供一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其以取像装置及光源适配进行待测物影像的撷取，而可由影像数据中各色图层所呈现的信息，有效辨识待测物的瑕疵，进而提升检测结果的精准度及检测效率。本专利技术的一目的提供一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其藉由待测物经不同波段的光线照射，与取像装置的感光组件本身功能的相互作用下而取得的各色图层的影像信息，可供明显判断待测物是否存有瑕疵。为了达成上述所指称的各目的与功效，本专利技术揭露一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其包含：提供一检测平台；提供一取像装置，相对该检测平台而锁定一影像区域；提供至少一光源，包含至少二波段的光线照射该影像区域的至少一侧；一待测物进入该影像区域受该些光线所照射，由该取像装置进行取像，取得包含该些波段的光线与该待测物的一影像数据，并且将该影像数据与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得一检测结果。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该光源与该取像装置设置于该检测平台的同一侧。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该影像数据分别包含一红色图层与一绿色图层的影像信息，且个别将该红色图层与该绿色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该些波段的光线为一红色波段以及一绿色波段。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该影像数据分别包含一红色图层与一蓝色图层的影像信息，且个别将该红色图层与该蓝色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该些波段的光线为一红色波段以及一蓝色波段。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该影像数据分别包含一绿色图层与一蓝色图层的影像信息，且个别将该绿色图层与该蓝色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该些波段的光线为一绿色波段以及一蓝色波段。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该影像数据分别包含一红色图层、一绿色图层以及一蓝色图层的影像信息，且个别将该红色图层、该绿色图层以及该蓝色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该些波段的光线为一红色波段、一绿色波段以及一蓝色波段。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该取像装置为一照相机构或摄影机构。于本专利技术的一实施例中，其亦揭露该光源设置于该检测平台的一侧，该取像装置设置于该检测平台的另一侧。附图说明图1：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法的流程图；图2A：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取系统的示意图1；图2B：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取系统的示意图2；图3：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法的影像数据参考图；图4A：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法的分色影像信息参考图1；以及图4B：其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法的分色影像信息参考图2。【图号对照说明】1光学影像自动撷取系统8待测物9检测平台10取像装置100影像区域102影像数据12光源L1光线L2光线L3光线S10步骤S12步骤S14步骤S16步骤S18步骤具体实施方式为了使本专利技术的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，特用较佳的实施例及配合详细的说明，说明如下：先前技术所载，习知针对待测物进行自动光学检测的方法，存在着无法同时撷取不同光学条件下的影像其图像进行比对。因此，本专利技术遂提出一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，解决传统待改进的问题，以提升检测结果的精准度及检测效率，并且于下述详尽说明。在此说明本专利技术的一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，请参阅图1，其为本专利技术的复合检测条件的光学影像自动撷取方法的流程图。如图所示，本专利技术的步骤包含：步骤S10：提供一检测平台；步骤S12：提供一取像装置，相对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其包含:/n提供一检测平台；/n提供一取像装置，相对该检测平台而锁定一影像区域；/n提供至少一光源，包含至少二波段的光线照射该影像区域的至少一侧；/n一待测物进入该影像区域受该些光线所照射，由该取像装置进行取像，取得包含该些波段的光线与该待测物的一影像数据；以及/n将该影像数据与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得一检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其包含:
提供一检测平台；
提供一取像装置，相对该检测平台而锁定一影像区域；
提供至少一光源，包含至少二波段的光线照射该影像区域的至少一侧；
一待测物进入该影像区域受该些光线所照射，由该取像装置进行取像，取得包含该些波段的光线与该待测物的一影像数据；以及
将该影像数据与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得一检测结果。


2.如权利要求1所述的复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其中该光源与该取像装置设置于该检测平台的同一侧。


3.如权利要求1所述的复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其中该影像数据分别包含一红色图层与一绿色图层的影像信息，且个别将该红色图层与该绿色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。


4.如权利要求1或3所述的复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其中该些波段的光线为一红色波段以及一绿色波段。


5.如权利要求1所述的复合检测条件的光学影像自动撷取方法，其特征在于，其中该影像数据分别包含一红色图层与一蓝色图层的影像信息，且个别将该红色图层与该蓝色图层的影像信息与该待测物其无瑕疵部分的分色影像信息，或相同于该待测物的无瑕疵待测物其分色影像信息进行比对，而取得该检测结果。

【专利技术属性】
技术研发人员：林传宗，
申请(专利权)人：晶彩科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71