测量颗粒运动参数的动量探针制造技术

本实用新型专利技术提供了一种应力－应变型动量探针，它可以用于颗粒流体两相流中颗粒动量、颗粒循环量等运动参数的测量。本实用新型专利技术由受力梁（１）、受力元件（２）、导线（３）、支承架（４）和补偿受力元件（５）所组成。其中，受力梁（１）设置在支承架（４）上，受力元件（２）粘贴在受力梁（１）上，补偿受力元件（５）设置在与受力元件（２）位置相对的支承架（４）上，导线（３）通过支承架中心引出。实验表明，该探头具有结构简单、响应灵敏、功能多样、合理消除气体的影响、能够实现瞬时测量、便于实现自动连续采样等优点。（*该技术在2002年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量颗粒流体两相流颗粒运动参数的探针，尤其是测量颗粒运动参数的应力－应变型动量探针。颗粒流体两相流中流体和颗粒的流型显著地影响反应器的性能，因此颗粒动量、颗粒循环量等运动参数的测量一直受到人们的高度重视。常见颗粒动量的测量方法有动力秤法、冲击摆法等，动力秤法结构复杂，不容易实现局部颗粒动量的测量，冲击摆法一般用来测量单方向颗粒动量，很难消除气体的影响；颗粒循环量的测量方法有颗粒示踪法、颗粒称重法、热量平衡法、压差法等，这些方法设计复杂，操作不便，容易影响颗粒流动。目前，虽然测量颗粒流体两相流运动参数的方法很多，但是寻求准确有效的测量技术一直是众所关注的问题。有关颗粒动量的测量方法请参见林宗虎编著，《气液固多相流测量》，中国计量出版社，1988年5月；有关颗粒循环量的测量方法参见BYJJ.Burkell，J.B.Grace，J.Zhao and C.J.Lin，Circulating Fluidized Bed Technology ll.p501－509.1988。本专利技术的目的是提供一种能够准确、可靠地测量颗粒流体两相流局部颗粒动量、颗粒循环量等运动参数的探针本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量颗粒运动参数的探针，其特征在于：该探针由受力梁（１）、受力元件（２）、导线（３）、支承架（４）和补偿受力元件（５）所组成。其中、受力梁（１）设置在支承架（４）上，受力元件（２）粘贴在受力梁（１）上，补偿受力元件（５）设置在与受力元件（２）位置相对的支承架（４）上，导线（３）通过支承架中心引出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：钱贵华，李静海，吴文渊，陈爱华，
申请(专利权)人：中国科学院化工冶金研究所，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]