【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及碳纳米管中的无定形碳含量的测定方法,属于化学分析领 域,适合各种碳质材料中无定形碳含量的测定。
技术介绍
目前,碳纳米管(carbon nanotubes)的制备方法很多,在各种碳纳 米管的制备过程中都伴随有无定形碳的产生,夹杂或覆盖在碳纳米管产品 中。其含量的多少直接影响着碳纳米管产品的性能,如何将无定形碳准确 的测定出来显得非常重要。由于无定形碳与碳纳米管很难分离,世界上公 知的方法中,还没有一种能较准确的测定碳纳米管中无定形碳含量的方 法。Jose E等在Chemical Physics Letters 2003, Pages 302-309,介 绍用Raman谱图中1-Id/Ig评价单壁碳纳米管S丽T的质量,该方法给出 的是碳纳米管的相对含量,并不能直接的得出无定形碳含量。P. X. Hou 等在Carbon, 2002, Pages 81-85,用TEM和TGA分析多壁碳纳米管(MWNT) 含量,由于TEM误差大,人为因素较多,更是由于观察的范围和对象太小 导致观察结果不确定性明显。而TGA方法受到试样中催化剂杂质的含量和 组成影响明显, ...
【技术保护点】
一种碳纳米管中无定形碳测定方法,包括: 采用以二氧化碳为主的反应气氛在500-850℃下氧化碳纳米管中的无定形碳的反应步骤;和与该方法配套的TGA测试技术。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:孔令涌,吉学文,王允实,何艳艳,黄蓉,任诚,
申请(专利权)人:深圳市德方纳米科技有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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