【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种对原子力显微镜采集的图像进行特征提取的方法，更特别地说， 是指一种采用区域遍历模式在原子力显微镜图像(AFM图像)上选取细节最丰富的子区域， 然后再次进行更高分辨率的扫描成像的方法。
技术介绍
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种利用原子、分子间的相互 作用力来观察物体表面微观形貌的仪器。原子力显微镜有一根纳米级的探针被固定在可灵 敏操控的微米级弹性悬臂上，当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作 用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置。根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维 图像，就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。随着科技的发展，原子力显微镜已经由地面应用发展到了深空探测，如火星探测 等。为了实现深空探测，原子力显微镜应当能够实现自动化操作，其中的一个重要环节就是 实现连续自动扫描成像。现有的深空探测用原子力显微镜扫描图像选区技术采用固定网格图像分割技术， 先对待测区域进行大范围的扫描得到AFM图像，然后将扫描图像等分为九个子区域，接着 分别对这九个子区域图像进行jpeg算法压缩，压缩...
【技术保护点】
一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法，其特征在于：通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前ＡＦＭ图像，将当前ＡＦＭ图像进行等比例缩为０－２５５之间整数的数学信息图像Ａ，然后对该数学信息图像Ａ进行８×８的图块分割，对分割后的图块Ｃ采用ＤＣＴ进行处理获得频域图块Ｄ，对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块Ｅ，对每一个量化图块采用８为步进的二维遍历得到分化图块Ｆ，然后对每一个分化图块依据压缩率公式ＣＭＰＲ＝Ｐ↓［Ｚｅｒｏ］／Ｐ↓［Ｔｏｔａｌ］×１００％求取压缩率，选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域；最后应用该子区域进行进一步扫描成像，从而获得更高分辨率的图像...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱建强，刘文良，李渊，李英姿，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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