一种用于热成像技术的热检测传感组件制造技术

本发明专利技术涉及一种用于热成像技术的热检测传感组件。该组件包括：光源，用于提供单色光；传导光纤，用于传导单色光；透镜组，设置在传导光纤的末端，用于将单色光汇聚成一束；光调制器，用于对单色光的强度进行调制，并使单色光以预设频率进行闪烁；光路折射样品台，用于放置样品；声信号检测器，用于检测单色光照射在样品上后产生的声波信号；输出电子接口，输出电子接口输入端与声信号检测器输出端相连，输出电子接口输出端与原子力显微镜相连。通过上述热检测传感组件，实现使用普通光源替代激光光源进行光声光谱成像，且不受激光光源波长的限制，普通光源的波长范围更加宽广，实现了样品对不同波长的热吸收成像，使得到的光声光谱图更加清晰。

【技术实现步骤摘要】
一种用于热成像技术的热检测传感组件
本专利技术涉及热检测传感组件，特别涉及一种用于热成像技术的热检测传感组件。
技术介绍
在对于材料的研究过程中，经常需要用AFM测量样品的导热系数及其显微结构。比较常用的方法有两种，一种使用热电偶针尖，使用激光加热样品使样品温度上升，并使用热电偶针尖测量样品表面的温度分布，通过AFM检测样品表面的温度分布，来确定其显微结构，另一种使用热电阻针尖，对针尖进行加热，样品的导热系数不同造成针尖的温度不同的热电阻不一样，同样是通过温度分布来确定其显微结构。这些技术都需要使用特殊制造的导电探针，然后对探针的导电性能进行实时测量。在使用热电偶探针技术和热电阻探针技术时，在成像过程中探针对样品需要产生比较大的接触压力才能保证热样品和探针之间的热传导，这种比较大的压力会对柔软易损样品产生破坏作用，对纳米颗粒类样品则因为需要用大压力接触模式，横向干扰力太大则不能成像，而传统的光声光谱成像使用调制激光光源成像，光源的波长范围较窄，使用限制较大。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是传统的光声光谱成像使用调制激光光源成像，光源的波长范围较窄，使用限制较大。为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于热成像技术的热检测传感组件，其特征在于，包括：光源，用于提供单色光；传导光纤，用于传导所述单色光；透镜组，设置在传导光纤的末端，用于将所述单色光汇聚成一束；光调制器，用于对所述单色光的强度进行调制，并使所述单色光以预设频率进行闪烁；光路折射样品台，用于放置样品，将所述单色光照射在样品上；声信号检测器，用于检测所述单色光照射在样品上后产生的声波信号；输出电子接口，所述输出电子接口输入端与所述声信号检测器输出端相连，所述输出电子接口输出端与原子力显微镜相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于热成像技术的热检测传感组件，其特征在于，包括：光源，用于提供单色光；传导光纤，用于传导所述单色光；透镜组，设置在传导光纤的末端，用于将所述单色光汇聚成一束；光调制器，用于对所述单色光的强度进行调制，并使所述单色光以预设频率进行闪烁；光路折射样品台，用于放置样品，将所述单色光照射在样品上；声信号检测器，用于检测所述单色光照射在样品上后产生的声波信号；输出电子接口，所述输出电子接口输入端与所述声信号检测器输出端相连，所述输出电子接口输出端与原子力显微镜相连。2.根据权利要求1所述的一种用于热成像技术的热检测传感组件，其特征在于，所述光调制器为液晶快门，采用锁相放大器的AC信号输出来改变光的通过率来调制光的强度。3.根据权利要求2所述的一种用于热成像技术的热检测传感组件，其特征在于，所述液晶快门包括快门和液晶窗片，所述液晶窗片包括：高速液晶分子材料或复数...

【专利技术属性】
技术研发人员：常帅，张海军，黄明柱，徐松，
申请(专利权)人：武汉科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42