【技术实现步骤摘要】
本技术是关于粒度分布测试的仪器。在已有技术中,对微粒的粒度分布的测试,有的采用筛分法、有的采用沉降法、也有的采用激光衍射式粒度分布测试仪。对筛分法,由于受分样筛目数的限制,在微粒粒径小于500目时,其使用受到局限;对于沉降法,则操作和计算麻烦,测定时间长;对于目前采用的激光衍射式粒度分布测试仪,主要存在价格较高的问题。本技术的任务是提供一种用于微粒的粒度分布测试的激光衍射式粒度分布测试仪。采用这种激光衍射式粒度分布测试仪时,在3-5分钟就快速的测出分别以体积、面积、直径为基准的粒度分布、累积50%粒径、比表面积、平均粒径。其测量粒径下限可达0.7μm。当配上供粉系统和分散装置后可直接对干的粉末样品进行粒度分布测试。本实用型提供的这种激光衍射式粒度分布测试仪的原理是光源照射在被测物料上时,发生衍射和漫射。微粒的漫射光光场强度通过高灵敏度的硅光电探测元件、计算机系统根据Mie理论对粒度分布下限值进行修正。微粒的衍射光光场强度可由Airy公式〔公式(1)〕给出I(∞)=EK2a4〔 (J1(Kaω))/(kaω) 〕2(1)式中K=2π/λ,∞=sinθE为λ射光 ...
【技术保护点】
一种激光衍射式粒度分布测试仪,由光源(1)、光闸(2)、扩束装置(3)、检测皿(4)、循环装置(5)、信号放大处理系统(9)、计算计系统(10)、打印机(11)、显示器(12)、分散装置(15)、供粉系统(16)、漫射补偿装置(17)、全反射棱镜(18)、模数转换器(26)组成,其特征在于具有由多个普通的光电敏感元件(22)组成的光电探测组件(18)和光吸收装置(14)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周定益,
申请(专利权)人:四川省轻工业研究所,
类型:实用新型
国别省市:51[中国|四川]
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