【技术实现步骤摘要】
结晶器材料检测用激光粒度分析仪
本技术属于光学仪器
,特别涉及一种利用激光散射测量微粒直径的结晶器材料检测用激光粒度分析仪。
技术介绍
许多工业生产领域的半成品或成品通常呈现粉未状,粉未的颗粒粒径大小是生产控制中最基本的参数,粒度及其分布的测试是生产与一项重要的测试项目。目前常用的测试方法有沉降法。筛析法、显微镜法和激光粒度分析法,其中后者测试速度快、重复性好、应用范围广,并可以实现快速测试,正逐渐得到广泛的应用。激光粒度分析法采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。目前市面上的粒度分析仪的测试平台不能进行移动,以及傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器之间未固定,光线进入量比较少,影响测量的准确性,从修复后的结晶器上取下的涂层,由于涂层微粒在检测液中分别不均匀,进一步地降低了测量的准确性。
技术实现思路
针对现有技术中的上述不足,本技术提供了一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪,其具有安装方便,傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器安装在同一个调节螺杆上,使光束始终位于同一直线上,提高了测量的准确性。为了达到上述专利技术目的,本技术采用的技术方案为:提供一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪,其包括支撑架、光电探测器、傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器,所述扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起,所述激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上,所述激光器、扩束镜和傅里叶变换透镜的中轴线位于同一直线上;所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨,探测器导轨的上表面开设有 ...
【技术保护点】
一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪,包括支撑架、光电探测器、傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器,其特征在于:所述扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起,所述激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上,所述激光器、扩束镜和傅里叶变换透镜的中轴线位于同一直线上;所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨,探测器导轨的上表面开设有一卡槽,其下表面设置有一凹槽,其中部开设有一条形槽;所述光电探测器活动的安装在探测器导轨上表面的卡槽内,探测器导轨下表面的凹槽内设置有一与光电探测器连接的微处理器,所述微处理器上连接有通讯接口。
【技术特征摘要】
1.一种结晶器材料检测用激光粒度分析仪,包括支撑架、光电探测器、傅里叶变换透镜、扩束镜和激光器,其特征在于:所述扩束镜和傅里叶变换透镜通过一密封的壳体固定在一起,所述激光器和壳体均通过调节螺杆安装在支撑架上,所述激光器、扩束镜和傅里叶变换透镜的中轴线位于同一直线上;所述支撑架的底板上安装有一探测器导轨,探测器导轨的上表面开设有一卡槽,其下表面设置有一凹槽,其中部开设有一条形槽;所述光电探测器活动的安装在探测器导轨上表面的卡槽内,探测器导轨下表面的...
【专利技术属性】
技术研发人员:王旭,
申请(专利权)人:德阳东合新材料科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川;51
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