荧光体检测方法及荧光体检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种荧光体检测方法及荧光体检测装置，在对涂在等离子显示器等玻璃基板上的荧光体带的涂敷不匀的检测中，存在一些问题，例如由于受带状涂敷的荧光体的非发光部分的影响而发生干扰条纹现象，以及由于为使荧光体发光带发光而使用的紫外线照明的照明不匀，而不能准确地检测荧光体带的涂敷不匀。该检测方法是：对形成于基板上的若干个带状荧光体照射紫外线，并拍摄上述带状荧光体所发出的光，检测上述拍摄的图像的信号电平，算出相当于上述信号电平所定值以上的信号电平那部分的平均值，再根据算出的平均值来检测上述带状荧光体的涂敷不匀。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是涉及一种荧光体检测方法及荧光体检测装置，特别涉及一种检测涂在等离子显示器等玻璃基板上的荧光体的涂敷缺陷的荧光体检测方法及荧光体检测装置。
技术介绍
根据图3说明一现有技术例。图3是示出检测涂在等离子显示器等的玻璃基板上的荧光体的涂敷缺陷的荧光体检测装置的大致构成的框图。图3中，31表示涂有荧光体的玻璃基板，32表示由CCD相机等组成的摄像部，33表示摄像部32的光学系统，34表示使荧光体发光的紫外线照明部，35表示检测涂敷不匀缺陷的图像处理部，36表示显示检测结果的显示部。另外，可以用打印机代替显示部。37表示荧光体检测装置的操作部。图5是说明等离子显示器的荧光体涂敷面的说明图。图5中，21表示等离子显示器的涂有荧光体的基板，例如玻璃基板。22表示带状(或狭长的形状)地涂在基板21上的红色荧光体涂敷层(以下简称为R荧光体带)；23表示带状地涂在基板21上的绿色荧光体涂敷层(以下简称为G荧光体带)；24表示带状地涂在基板21上的蓝色荧光体涂敷层(以下简称为B荧光体带)。另外，25是R、G、B荧光体之间的部分(以下简称为隔壁)。如上所述，等离子显示器的荧光体涂敷面的构造是，R、G、B荧光体带22、23、24之间夹着隔壁25，周期性地配置在基板21上。以下称这种构造为等离子显示器发光面。并且，现有的荧光体检测装置，在等离子显示器发光面的全显示面上照射电磁放射光，使涂在基板上的荧光体带发光。例如，图5所示，在等离子显示器发光面的全显示面上，照射由紫外线照明部34输出的紫外线，使涂在基板21上的荧光体带发光。即，R荧光体带22发出红色光，G荧光体带23发出绿色光，B荧光体带24发出蓝光。摄像部32通过光学系统33拍摄处于发光状态的等离子显示器的发光面，并将由此获得的图像信号输出到图像处理部35。此时，根据作为检测对象的荧光体带的荧光涂料的种类(红色(R)、绿色(G)、蓝色(B))，在摄像部32中光学系统33上安装对应于各种荧光体带的彩色滤光镜，获得各颜色的输出信号。图像处理部35由被输入的图像信号算出最大亮度、最小亮度、平均值、偏差等，并根据这些计算结果检测亮度不匀，将检测的亮度不匀信息输出到显示部36。另外，对于最大亮度、最小亮度、平均值、偏差，后述说明。但是，如前面所述，用荧光体检测装置检测等离子显示器的发光面的情况下，例如，检测R荧光体带22时，由于在光学系统33上安装红色滤光镜，在摄像部32只能检测由R荧光体带22发出的发光信号，因此隔壁25部分和G和B荧光体带部分的拍摄图像变暗。虽然G和B荧光体带部分本来在发光，但是由于安装有红色滤光镜，因此在摄像装置6中检测不出其发光。所以，将隔壁25部分和G和B荧光体带部分称为非发光部分。在现有公知技术中有一种为了评价等离子显示器发光面的全面涂敷不匀情况，利用空间滤光镜等对所拍摄图像的亮度信号实施均匀化处理(例如，将所定期间的亮度信号电平累积)的方法，但单纯的均匀化会产生干扰条纹现象，因而存在着将所产生的干扰条纹误当作涂敷不匀而检测出来等问题。图4是表示利用使用CCD相机的摄像部32，通过红色滤光镜拍摄R荧光体带22时的图像。由此图像可知，在等离子显示器41的发光面42整面上会产生干扰条纹现象。另外，紫外线照明部34设置于涂有荧光体的玻璃基板31的两侧，并照射紫外线，因此，紫外线不能均匀地照射在玻璃基板31上。由此，发生照明不匀，也成为涂敷不匀误检测的原因。另外，已知的等离子显示板的检测方法(例如，请参照特许文献1)中有一种，使用彩色电视摄像机或黑白电视摄像机，来检测R、G、B荧光体的涂敷不匀的方法，但所述方法中没有言及上述干扰条纹现象。专利文献1，特开平11-16498号公报(第4、5页，第1、8-13图)
技术实现思路
在上述现有技术中，存在由于拍摄图像上发生干扰条纹现象，或者由于电磁波或粒子线(例如紫外线)照射不均匀产生误检测的缺点。本专利技术的目的是提供一种荧光体检测方法及荧光体检测装置，其可减轻由于受带状涂敷荧光体的非发光部分的影响而产生的干扰条纹现象，且能高精度地对带状涂敷荧光体的涂敷不匀进行检测。本专利技术的另外一个目的是提供一种荧光体检测方法及荧光体检测装置，其可减轻紫外线等照明的照明不匀，还能高精度地进行对带状涂敷荧光体的涂敷不匀的检测。本专利技术的荧光体检测方法是通过下述方式达成的，向形成于基板的若干个带状荧光体照射紫外线等电磁放射光(电磁波或粒子线)；拍摄从上述带状荧光体发出的光；检测上述所拍摄图像的信号电平；算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值；根据上述算出的平均值来检测上述带状荧光体的涂敷不匀。在本专利技术的荧光体检测方法中，算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值的计算，是在每个所定区间进行的。在本专利技术的荧光体检测方法中，上述若干个带状荧光体是R、G、B荧光体带中的至少一种荧光体带，上述所定区间是与上述荧光体带的大致重复周期相等。在本专利技术的荧光体检测方法中，检测上述信号电平的所定值以上的信号电平的最大值，并将上述最大值间作为上述所定区间。在本专利技术的荧光体检测方法中，由上述所拍摄的图像信号电平而算出最大信号电平、最小信号电平、平均值以及偏差，根据上述计算结果检测荧光体带的涂敷不匀。而且，本专利技术的荧光体检测装置是由，向形成于基板上的若干个带状荧光体照射电磁波或粒子线的照射部、拍摄由上述带状荧光体发出的光的摄像部、以及处理上述所拍摄的图像信号的图像处理部组成；上述摄像部是由在上述带的方向上移动的线路传感器组成；上述图像处理部具有检测上述拍摄的图像的信号电平，并算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值，再根据上述算出的平均值检测上述带状荧光体的涂敷不匀的功能。在本专利技术的荧光体检测装置中，上述图像处理部是，由在上述图像信号的每个所定区间算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值的构件构成。在本专利技术的荧光体检测装置中，上述若干个带状荧光体是R、G、B荧光体带中的至少一种，上述图像处理部包含检测与上述荧光体带的大致重复周期相等的上述所定区间的构件。在本专利技术的荧光体检测装置中，上述图像处理部具有检测上述信号电平的所定值以上的信号电平的最大值，并将上述最大值之间间隔设定为上述所定区间的电平检测部。另外，在本专利技术的荧光体检测装置中，上述图像处理部具有电平检测部和涂敷不匀检测部，上述电平检测部由上述所拍摄的图像信号电平算出最大信号电平、最小信号电平、平均值及偏差，上述涂敷不匀检测部根据上述计算结果检测荧光体带的涂敷不匀。附图简要说明附图说明图1是本专利技术的一实施方式的框图。图2是说明本专利技术原理的亮度信号波形图。图3是现有荧光体检测装置的例子概略构成框图。图4是现有的用荧光体检测装置拍摄的影象的干扰条纹现象发生例图。图5是等离子显示器荧光体涂敷面的说明图。图6是本专利技术的动作说明图。图7是本专利技术实施方式的局部放大图。图8是本专利技术原理的说明图。具体实施例方式图1示出本专利技术的荧光体检测装置一实施方式。图1中，1表示等离子显示器等玻璃基板的放置台，2表示等离子显示器等玻璃基板，3表示R、G、B荧光体带，4表示使荧光体带3发光的紫外线照明用光源，5表示依次安装有透镜及R、G、B彩色滤光镜的光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
荧光体检测方法，其特征在于包括以下步骤：向形成于基板上的若干个带状荧光体照射电磁波或粒子线；拍摄由上述带状荧光体发射的光；检测上述所拍摄的图像的信号电平；算出相当于上述信号电平的所定值以上的信号电平那部分的平均值；根据上述算出的平均值检测上述带状荧光体的涂敷不匀。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：渡贯明男，
申请(专利权)人：株式会社日立国际电气，
类型：发明
国别省市：JP[日本]