荧光检测方法技术

本发明专利技术揭露一种荧光检测方法，首先将荧光检测试剂加入样品中。将样品盛装至一样品盘中，其中样品盘包含至少一列背景样品孔，以及至少一列待测样品孔。以一背景光源照射样品盘。取得样品盘的一背景灰阶影像。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出此列背景样品孔的边缘位置。根据此列背景样品孔的边缘位置，计算出此列待测样品孔的边缘位置。取得位于此列背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均作为一背景信号临界值。根据背景信号临界值对此列待测样品孔进行荧光信号读取作业。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术揭露一种，首先将荧光检测试剂加入样品中。将样品盛装至一样品盘中，其中样品盘包含至少一列背景样品孔，以及至少一列待测样品孔。以一背景光源照射样品盘。取得样品盘的一背景灰阶影像。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出此列背景样品孔的边缘位置。根据此列背景样品孔的边缘位置，计算出此列待测样品孔的边缘位置。取得位于此列背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均作为一背景信号临界值。根据背景信号临界值对此列待测样品孔进行荧光信号读取作业。【专利说明】
本专利技术与包含酶或微生物的测定或检验方法有关，特别是有关于一种。
技术介绍
利用荧光，是检测核酸的一种技术。是利用适当波长的光照射具有荧光性质的样品，样品会吸收光的能量而被激发至高能量状态，并在极短时间内回复低能量状态，同时以放光的形式将多余能量释出。当样品上结合有荧光或可呈色的化学物质，便能提供光源，使化学物质产生荧光反应。借此，由外部观察是否有荧光反应，便能知道样品有没有结合化学物质，或者是结合化学物质的样品是否存在。已知的荧光技术系统通常包含一激发光源、一感光元件、一聚光装置。当光源照射在样品上，样品吸收能量产生光致荧光效应后发出荧光，但因为荧光信号微弱且亦受其他光源干扰如激发光源，需通过聚光装置收集后才能由感光元件感测。上述的聚光装置通常由多片透镜、反射镜及放射光滤片(Emission Filter)组成，其光路复杂且不容易精确。而且光源通常为汞灯、氙灯或卤素灯等，虽其发光波长涵盖范围长，但激发光源需针对不同的荧光指示剂下去做选择波段，所以还必须使用不同滤镜做搭配，耗费成本高且激发能量弱。而感光元件感测光信号后将其转为电流信号，又需通过转阻放大器(Trans-1mpedanceAmplifier, TIA)将此电流信号转换为模拟电压信号，再利用模拟数字转换电路(Analog toDigital Converter, ADC)将模拟电压信号转为数字电压信号，才能得出所需的实验要据，如此一来手续繁杂又需增加额外成本支出。一般由外部判断荧光反应的技术，是直接接收荧光，当荧光强度高于特定值，便视为有荧光反应。然而接收荧光的技术，容易受环境影响，难有稳定的准确度。且已知的荧光检测技术装置大体上为体积庞大的复杂系统，携带不便，如有须检测的样品需带回实验室才有办法进行检测，浪费时间且麻烦。有鉴于上述问题，本专利技术提供了一种方便且检测准确度更为稳定的一种。
技术实现思路
因此本专利技术的一目的在于提供一种，利用灰阶影像与比对技术准确快速地分辨出样品是否有荧光信号。将荧光检测试剂加入样品中；将样品盛装至一样品盘中。其中该样品盘包含至少一列背景样品孔。以及至少一列待测样品孔。以一背景光源照射该样品盘。取得该样品盘的一背景灰阶影像。根据本专利技术一实施方式，上述还包含下述步骤。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出背景样品孔的边缘位置。根据背景样品孔的边缘位置，计算出待测样品孔的边缘位置。取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均，作为一背景信号临界值。根据待测样品孔的边缘位置以及背景信号临界值，对待测样品孔进行荧光信号读取作业。依据本专利技术又一实施方式，上述对待测样品孔进行荧光信号读取作业的步骤，包含以背景光源照射样品盘；取得样品盘的一待测灰阶影像。均值滤波待测灰阶影像，取得位于待测样品孔内的灰阶像素数据。逐个判断位于待测样品孔内的灰阶像素数据是否大于背景信号临界值；以及当位于待测样品孔内的灰阶像素数据大于背景信号临界值时，判断为读出荧光信号。依据本专利技术另一实施方式，上述对待测样品孔进行荧光信号读取作业的步骤，还包含根据待测灰阶影像，取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据；根据位于背景样品孔内的灰阶像素数据，判断是否读出光源信号，当未读出光源信号时，判断为异常状况，并终止实验。依据本专利技术再一实施方式，其中对于取得样品盘的背景灰阶影像的步骤是以电荷率禹合元件(Charge-couple Device, CO))或互补式金属氧化物半导体(ComplementaryMetal Oxide Semiconductor, CMOS)等光感测器为之。依据本专利技术又一实施方式，其中背景样品孔上覆盖有一减光片或偏光片，且待测样品孔上覆盖有一突光滤镜。而背景光源为一发光二极管或一激光光源，且背景光源照射样品盘的方向，是选自样品盘的上方、侧边、下方、及其组合。根据本专利技术另一实施方式是在提供一种包含下述步骤。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出背景样品孔的边缘位置。根据背景样品孔的边缘位置，计算出待测样品孔的边缘位置。取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均，作为一背景信号临界值。根据待测样品孔的边缘位置以及背景信号临界值，对待测样品孔进行荧光信号读取作业。其中对待测样品孔进行荧光信号读取作业的步骤，包含以背景光源照射该样品盘。以相异曝光的时间取得该样品盘的多个待测灰阶影像。均值滤波待测灰阶影像。取得位于待测样品孔内的灰阶像素数据。逐个判断位于待测样品孔内的灰阶像素数据是否大于背景信号临界值。以及当位于待测样品孔内的灰阶像素数据大于背景信号临界值时，判断为读出荧光信号。依据本专利技术再一实施方式，上述其中取得样品盘的待测灰阶影像可为两次、三次、四次或以上，且曝光时间随着待测样品距离光感测器递增而递增，通过撷取待测灰阶影像的时间相异以浮动方式让起始测量值一致。根据本专利技术又一实施方式是在提供一种包含下述步骤。一定位步骤。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出背景样品孔的边缘位置。根据背景样品孔的边缘位置，计算出待测样品孔的边缘位置。取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均，作为一背景信号临界值。根据待测样品孔的边缘位置以及背景信号临界值，对待测样品孔进行荧光信号读取作业。依据本专利技术另一实施方式，其中该定位步骤包含直接由样品管内的样品透出光定位。依据本专利技术又一实施方式，其中该定位步骤包含实验前样品孔座标定位。依据本专利技术再一实施方式，其中该定位步骤包含由样品管加上一减光片或一偏光做样品管定位。依据本专利技术另一实施方式，其中该定位步骤包含外加至少两光源辅助定位。借此，本专利技术的荧光信号读取作业不易受环境的影响，且移动后的荧光信号读取作业也可以通过定位步骤做测量的校准；且本专利技术方法的稳定度与准确度高。【专利附图】【附图说明】图1绘示本专利技术一实施方式的的流程图；图2绘示本专利技术一实施方式的的流程图；图3绘示图1的对待测样品孔进行荧光信号读取作业的流程图；图4绘示对待测样品孔进行荧光信号读取作业的另一实施方式流程图；图5绘示应用本专利技术的实施方式荧光感测装置示意图；图6绘示多次取得样品盘的待测灰阶影像的整合示意图。【具体实施方式】图1绘示本专利技术一实施方式是在提供一种，包含下述步骤。将荧光检测试剂加入样品中。将样品盛装至一样品盘中，其中样品盘包含至少一列背景样品孔，以及至少一列待测样品孔。以一背景光源照射样品盘。取得样品盘的一背景灰阶影像。请参照图2，如上述的还包含下述步骤。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种荧光检测方法，其特征在于，包含：将荧光检测试剂加入样品中；将样品盛装至一样品盘中，其中该样品盘包含至少一列背景样品孔及至少一列待测样品孔；以一背景光源照射该样品盘；以及取得该样品盘的一背景灰阶影像。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：邓秉华，林清格，陈宏铭，
申请(专利权)人：瑞基海洋生物科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：