测定聚合物分子量的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及通过使用从藉联到飞行时间质谱仪（ＴＯＦ－ＭＳ）的被分析物电喷雾滴产生的电荷减少气相被分析物离子，对分子和高分子（包括聚合物）的直接质量分析的装置和方法。根据本发明专利技术分析的分子和高分子（包括聚合物）同时包括具有重均分子量在１千道尔顿（ｋＤ）和５００，０００ｋＤ之间的重均分子量的水溶性和水不溶性的聚合物。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测定分子和高分子的分子量的装置和直接方法。更具体地说，本专利技术涉及通过使用从藉联到飞行时间质谱仪(TOF-MS)的聚合物电喷雾滴产生的电荷减少聚合物离子来进行的聚合物的直接质量分析。聚合物的分子量分布的测定是聚合物表征的重要方面。测定聚合物的分子量分布(MWD)的常规方法是相对于其MWD已经准确地测定的一些聚合物标准物，凝胶渗透色谱法(GPC)的使用。然而，许多聚合物的分子量分布不能通过使用GPC来测定。对于使用GPC来进行的MWD的成功测定，聚合物必须溶于与GPC柱填充材料相容并避免与柱发生吸附相互作用的溶剂中。质谱分析法(MS)是测定聚合物的MWD的另一种方法。然而，尽管质谱检测提供了鉴定各种分子的有效方式，但是它用于分析高分子量化合物却在目前受到与产生归因于所给定被分析物的气相离子的问题之防碍。尤其，质谱分析测定重要生物化合物和工业聚合物的混合物的组成的应用严重地受到与低样品挥发性和在蒸发和电离过程中不可避免的段裂有关的试验困难的限制。由于这些限制的结果，含有生物高分子和聚合物的样品利用质谱分析法的定量分析的潜力基本上未实现。另外，常常产生具有一定范围的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
分子和高分子的直接质量分析的装置，它包括：用于产生包括分子和高分子在内的被分析物的电喷雾滴的电喷雾产生器，该电喷雾产生器包括与飞行时间质谱仪藕联的用于气相被分析物离子的电荷减少的离子化源，以进行被分析物的直接质量分析。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：JN亚历山大四世，DA索西，
申请(专利权)人：JN亚历山大四世，DA索西，
类型：发明
国别省市：US[美国]