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本发明涉及通过使用从藉联到飞行时间质谱仪（ＴＯＦ－ＭＳ）的被分析物电喷雾滴产生的电荷减少气相被分析物离子，对分子和高分子（包括聚合物）的直接质量分析的装置和方法。根据本发明分析的分子和高分子（包括聚合物）同时包括具有重均分子量在１千道尔顿（...
该专利属于J.N.亚历山大四世;D.A.索西所有，仅供学习研究参考，未经过J.N.亚历山大四世;D.A.索西授权不得商用。

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