【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于分析化学领域，涉及一种测试方法，具体地说是涉及一种测定镀液或镀层中纳米微粒含量的测定方法。
技术介绍
随着纳米科技的迅速发展，纳米微粒因其优异性能而被广泛应用于复合镀的生产和研究中，镀液及镀层中的纳米微粒含量直接影响到镀液和镀层的性能，因此准确测定纳米微粒的含量是十分重要的问题。目前对纳米微粒含量的测试主要采用质量法、表面能谱分析法、电子探针法、X射线荧光光谱法和分光光度法等。质量分析法费时，且分析过程中被测的纳米颗粒容易流失，因此误差较大，特别是试样较小、纳米微粒含量较低情况下尤为明显。表面能谱分析方法属于半定量分析方法，并且是微区分析方法，如果测定点不够多，测定误差会很大，而多点测定费时较多，还会导致昂贵的测试费用。电子探针法和X射线荧光光谱法虽然测量结果比较准确，但测试设备昂贵，不利于普及应用。分光光度法可直接测量纳米微粒含量，但是由于纳米微粒尺寸小、比表面积大、表面能高，在液相介质中受范德华力的作用极易发生团聚。CN1479089A中公开了一种溶液中纳米微粒含量的测定方法，此方法测量镀层和镀液中纳米微粒含量时，含有被测纳米微粒的溶液稳定性...
【技术保护点】
一种利用分光光度法测定镀液或镀层中纳米微粒含量的方法，其特征在于所述测定方法按照如下步骤进行：一、确定测定波长；二、绘制标准曲线；三、测定待测实际工作液样品中纳米微粒的含量，其中在确定测定波长、绘制标准曲线和测定待测实际样品中纳米微粒含量的步骤中所使用的测试液中加入浓度为０．０５ｇ／ｍｌ的阿拉伯胶。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：安茂忠，郑环宇，卞军军，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]
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