用于连续控制在陶瓷工业中使用的粉末的粒度分布的方法以及用于实施该方法的设备技术

技术编号:2585347 阅读:200 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
用于连续控制离开制粉设备的陶瓷粉末的粒度分布的方法,包括至少下面的步骤:以预定间隔提取至少一个粉末样品;测量提取样品的粒度分布;通过处理器将所测量的粒度分布与基准粒度分布比较;在测量粒度分布和基准粒度分布之间的差异的基础上,调整影响粒度分布的所述制粉设备的至少一个参数;以及用于该方法实现的设备。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于控制和确定在陶瓷工业中使用的粉末的粒度分布的设备和相关方法,上述粉末特别是通过喷雾干燥或雾化法获得的陶瓷粉末,也被称为雾化粉末,或者通过干燥研磨获得的粉末。
技术介绍
生产这种雾化粉末的设备通常被称为雾化器。已知使用诸如筛选、激光衍射、超声波声谱和显微镜分析之类的方法来确定粉末粒度分布。具有良好精度和低成本的快速执行方法是基于处理由合适的摄像机或照相机或已知的光学度量(optometric)机构获得的图像;该方法被称为CAIA(计算机辅助图像分析)。已知方法使得能通过与需要的分布进行比较来分析陶瓷粉末的粒度分布(以重量或体积)。进行这种分析以便避免使用具有超出规定范围的粒度分布的陶瓷粉末,这种粉末会使得所成形瓷砖的孔隙度不满足在质量规程中限定的合格标准。在实际中,技术专家通常分析所述粉末的粒度分布数值,从而直接调节控制制粉设备(例如雾化器)操作的参数,以便维持粒度分布曲线处于预定范围内。因此,这些调节需要有专家的存在,该专家能够完成所述测量,处理数据并且随后适当地改变所述参数的数值。这些操作可能造成高比例的人为差错,并且随之产生在获得数据方面的统计不确定性、低测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于连续控制离开制粉设备的陶瓷粉末的粒度分布的方法,其特征在于包括至少下面的步骤:以预定间隔提取至少一个粉末样品;测量提取样品的粒度分布;通过处理器将所测量的粒度分布与基准粒度分布比较;在测量粒度分布和基 准粒度分布之间的差异的基础上,调整影响粒度分布的所述制粉设备的至少一个参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:F丰塔纳D福斯基P里沃拉S瓦利B扎乌利EP托马西尼GM雷韦尔N保内F拉加齐尼
申请(专利权)人:萨克米伊莫拉机械合作社合作公司
类型:发明
国别省市:IT[意大利]

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