精铝电解质成分的X射线荧光快速分析方法技术

本发明专利技术公开了一种精铝电解质成分的Ｘ射线荧光快速分析方法，它以纯氟体系精铝电解生产为基础，制得精铝电解质标准样品，并采用Ｘ射线荧光光谱法对精铝电解质成分进行分析；本发明专利技术大大提高了精铝电解质成分的分析速度，且具有准确度高、操作简便、检出限低、精密度好、误差小等优点，大大降低了分析成本，完全满足精铝生产的需要，填补了该项技术在国内铝行业应用的空白。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种精铝电解质成分的分析方法，尤其是一种精铝电解质的X射线荧光快速分析方法。
技术介绍
精铝电解质的成分关系到精铝生产的工艺稳定和产品质量。目前精铝电解质成分的分析方法，一直沿用传统的化学分析方法。由于国内仅有少数生产精铝的厂家，而且存在精铝电解生产体系的差异，所以迄今没有统一的国家分析标准。这也就导致对精铝电解质成分的分析测定必须分开进行，以纯氟体系精铝电解质为例，其中的氟化钙、氟化钠采用原子吸收分光光度法测定；氟化钡采用硫酸钡重量法测定；而氟化铝采用EDTA容量法测定。整个分析分四个步骤，而且所得的分析数据仅仅是元素含量，还需分别乘以不同的换算系数，才能得到分析结果。就分析时间而言，分析一个精铝电解质试样，大约要耗时2天。存在耗时长、过程繁琐、结果滞后、人为误差大等缺点，而且劳动强度大，不能很好地满足精铝生产的需要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种分析速度快、操作简便、检出限低、精密度好、误差小、准确度高的精铝电解质成分的X荧光快速分析方法，以克服现有技术的不足，完全满足精铝生产的需要。本专利技术是这样实现的，它按照以下步骤进行A、以纯氟体系精铝电解生产为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种精铝电解质成分的Ｘ射线荧光快速分析方法，其特征在于：它按照以下步骤进行：Ａ、以纯氟体系精铝电解生产为基础，选择精铝电解质中成份含量呈梯度分布的电解槽，从中采集精铝电解质试样并编号；Ｂ、将步骤Ａ中采集到的熔融试样自然冷却１～３ｈ，凝固成块状固体，然后破碎成粒度≥３００目的细粉，并对其进行均匀性检验，得到精铝电解质标准样品；Ｃ、采用Ｘ射线荧光光谱仪对步骤Ｂ中得到的精铝电解质标准样品进行荧光强度电平扫描，得到精铝电解质中铝、钠、钡、钙元素的电平宽度；Ｄ、根据步骤Ｃ中得到的铝、钠、钡、钙元素的荧光强度，对照化学定值的化学含量绘制铝、钠、钡、钙元素的工作曲线，并设定氟化铝、氟化钠、氟化钡、氟化钙化合...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：罗维，袁艺，吴静，钟世华，马能，
申请(专利权)人：中国铝业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]