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本发明公开了一种精铝电解质成分的Ｘ射线荧光快速分析方法，它以纯氟体系精铝电解生产为基础，制得精铝电解质标准样品，并采用Ｘ射线荧光光谱法对精铝电解质成分进行分析；本发明大大提高了精铝电解质成分的分析速度，且具有准确度高、操作简便、检出限低、精...
该专利属于中国铝业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国铝业股份有限公司授权不得商用。

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