影像感测晶片污点检测系统及其检测方法技术方案

一种影像感测晶片污点检测系统，其包括：初始化设置模块，用于初始化设置准污点标准值范围以及污点标准值；影像获取模块，所获取的影像中获取各像素点的亮度值；计算模块，用于求取平均值以及其标准差值；比较模块，用于将平均值以及其标准差值分别与准污点标准值范围以及污点标准值相比较，以及标注模块，用于标注落入准污点标准值范围的准污点以及大于污点标准值范围的污点。利用上述影像感测晶片污点检测系统，避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率，进而提高了检测合格率。本发明专利技术还提供一种上述影像感测晶片污点检测系统的检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种检测影像感测晶片品质的系统，尤其是关于一种检测影像感测晶片表面 的污点的。技术背景随着科技的不断发展，携带式电子装置如移动电话，应用日益广泛，同时也日渐趋向于 轻巧、美观和多功能化，其中照相功能是近年流行的移动电话的附加功能。应用于移动电话 的数码相机模组不仅要满足轻薄短小的要求，其还须具有较高的照相性能。但随着数码相机 及移动电话的相机模组的像素不断提高，而影像感测晶片的成像面积却不断縮小，这样使得 单像素点越来越密集且越来越小，从而即使细微的尘埃落在影像感测晶片的成像表面上也会 造成影像上的缺陷，进行造成成像的品质下降。因此，能及时检测出有品质问题的影像感测 晶片将有利于提高数码相机的照相品质。目前在组装影像感测晶片过程中，对影像感测晶片的检测主要是通过人工目检，即利用 人工一块一块地将成像表面有污点的影像感测晶片挑出来，这样的检测方式存在较大的主观 因素，而且人工检测方式还会存在很大的漏检率，从而使得检测合格率降低。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能提高检测合格率的。一种影像感测晶片污点检测系统，其包括初始化设置模块，用于初始化设置准污点标 准值范围以及污点标准值；影像获取模块，用于从影像感测晶片获取影像，并从影像感测晶 片所获取的影像中获取各像素点的亮度值的；计算模块，用于求取各像素点与该点周边各像 素点的亮度值的差值的平均值以及其标准差值；比较模块，用于将该计算单元所求得的平均 值以及其标准差值分别与初始化设置模块存储的准污点标准值范围以及污点标准值相比较； 以及标注模块，用于标注落入准污点标准值范围的准污点以及大于污点标准值范围的污点。一种检测影像感测晶片污点的方法，该方法包括下列步骤分别提供一个用于区别准污 点与非污点的准污点标准值范围以及用于区别污点与噪点的污点标准值；使待检测影像感测 晶片获取任一影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值；将所取得的其中一像素点的亮度 值与该点周边的像素点的亮度值作比较，求其差值，并求该像素点的亮度值与该点周边各像素点的亮度值的差值的平均值；判断所述平均值是否落入所述标准值范围；若所述平均值落 入所述标准值范围，则认为该点为准污点，并标出该准污点的位置；对该准污点与该准污点 周边的像素点求其标准差值；判断该标准差值是否大于所述污点标准值；若该标准差值大于 标准值，则该标准差值所对应的准污点为污点，并将该污点标出。上述检测利用差值定位法及标准差的方法检测 及定位污点的位置，克服了影像感测晶片本身噪点的影响，能够准确地判断污点存在的位置 。从而避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率，进而提高了检测合格率。附图说明图1是本专利技术影像感测晶片污点测试系统的较佳实施例的硬件架构图； 图2是本专利技术影像感测晶片污点测试系统的功能模块图；图3是本专利技术所提供的检测影像感测晶片污点的方法的较佳实施例的流程图；图4是图3中准污点标准值范围的取得方法的流程图；图5是图3中准污点标准值范围的取得方法的流程图；图6是本专利技术较佳实施例利用五点差值定位法准确标注准污点的方法流程图；图7是对该准污点与该准污点周边的像素点求其标准差值的流程图。具体实施方式为了对本专利技术作更进一步的说明，举一较佳实施例并配合附图详细描述如下。 如图1所示，是本专利技术影像感测晶片污点测试系统较佳实施方式的硬件架构图。该影像感测晶片污点测试系统(下文称"本系统")建构在多个计算机2中。所述的计算机2通过影 像数据线4与一个待测影像感测晶片10电性连接以获取影像，并在对影像进行相应的测试后 ，利用连接5将测试结果输出至数据库3中进行存储。所述的连接5是一种数据库连接，如开 放式数据库连接(Open Database Connectivity, ODBC)，或者Java数据库连接(Java Database Connectivity, JDBC)。在本实施例中，待测影像感测晶片10收容在一相机模块1中，通常相机模块l还包括镜头 12及镜座14，也可包括其他元件或装置(图中未示出)。该影像感测晶片10可以是 CCD (Charge Coupled Device,电荷藕合器件)，或者是CMOS (Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor,互补型金属氧化物半导体)。该相机模块l可以组 装至计算机2、手机(未示出)或者其他装置中进行拍摄。所述的数据库3用于存储各类数据，包括从相机模块l获取的影像，对影像测试后的结果 等。该数据库3可独立于计算机2，也可位于计算机2内，储存在计算机2的硬盘(未示出)上本系统用于获取影像感测晶片10所获得的影像，对该影像进行相关测试，判断该影像中 是否存在污点从而确定该影像感测晶片10是否为合格产品，并将测试结果进行输出及反馈。如图2所示，是本专利技术影像感测晶片污点测试系统的功能模块图。该影像感测晶片污点 测试系统安装于计算机2内，其包括六个功能模块，分别是初始化设置模块21、影像获取 模块22、影像区域设置模块23、计算模块24、比较模块25及标注模块26。需要说明的是，在本实施例中，该影像感测晶片污点检测系统通过给待测影像感测晶片 IO通电来检测并定位其表面的污点，在待测影像感测晶片10将光线作为接收信号接收并输出 的过程中会在所成图像中产生粗糙点，其看起来与污点所成在图像中的影像基本上一样，该 粗糙点被业界称为噪点，其通常是由外界电子干扰产生或长时间曝光产生的，其存在于影像 中是必然的。因此，在检测影像感测晶片10的时候，还需要将其污点与噪点区分开来，而在 将污点与噪点区别开来之前，该污点与噪点统称为准污点，非污点或非噪点统称为非污点。另外还需要说明的是，下面所述的像素点是指影像感测晶片10中像素阵列中面积最小的 成像单位，因每个成像单位之面积很小，故称之为像素点。所述初始化设置模块21用于初始化设置以区别准污点与非污点的准污点标准值范围以及 区别污点与噪点的污点标准值；所述影像获取模块22用于通过影像数据线4从相机模块1中的影像感测晶片10处获取影像 ，并在计算机l中显示该影像从而对该影像进行相应的处理。在本实施例中，该影像获取模 块22获取的影像感测晶片10的影像从白色均匀光亮光源板获得。所述影像区域设置模块23用于将测试影像区域分成多个区域。在初始化设置污点模准值 时，用户可通过影像区域设置模块21将测试影像区域分成多个区域以进行对比。在本实施例 中，将影像区域分成九个区域。所述计算模块24用于对影像获取模块22所获取的影像求取各像素点与该点周边各像素点 的亮度值的差值的平均值以及其标准差值；所述比较模块25，用于将该计算模块24所求得的平均值以及其标准差值分别与初始化设 置单元存储的准污点标准值范围以及污点标准值相比较。所述标注模块26，用于比较模块25比较后，标注落入准污点标准值范围的准污点以及大 于污点标准值范围的污点，并将所标注的结果输出到数据库3中。下面将对本实施例所提供的影像感测晶片污点检测系统的测试方法进行详细说明，如图 3所示，为检测影像感测晶片污点的方法流程图。分别初始化设置用于区别准污点与非污点的准污点标准值范围以及用 于区别污点与噪点的污点标准值。步骤S102，使本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种影像感测晶片污点检测系统，其特征在于，该系统包括：　初始化设置模块，用于初始化设置准污点标准值范围以及污点标准值；　影像获取模块，用于从待测影像感测晶片处获取影像，并从影像感测晶片所获取的影像中获取各像素点的亮度值；　计算模块，用于求取各像素点与该点周边各像素点的亮度值的差值的平均值以及其标准差值；　比较模块，用于将该计算单元所求得的平均值以及其标准差值分别与初始化设置模块存储的准污点标准值范围以及污点标准值相比较；以及，　标注模块，用于标注落入准污点标准值范围的准污点以及大于污点标准值范围的污点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭磊，王江平，
申请(专利权)人：佛山普立华科技有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]