单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法及装置。方法是先将轴承甲、内隔圈、轴承乙、和压板依次套在底座的芯轴上，将螺母甲套在芯轴的螺纹甲上，边旋紧螺母甲边旋转轴承乙外圈，使压板压紧轴承乙外圈；再将支角支板部件装在芯轴上，使支脚支板部件上的支爪压在轴承甲的外圈上，将螺母乙套在芯轴的螺纹乙上，边旋紧螺母乙边旋转轴承甲外圈，使支角支板部件支爪压紧轴承甲外圈；然后分别测量两个轴承外圈相邻两端面的间距，和外隔圈的高度，计算两个轴承外圈相邻两端面的间距与外隔圈的高度差，得出单列圆锥轴承串联的配对间隙。该方法具有测量精度高、操作简便的特点。可提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轴承测量，特别是涉及单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法及装置。
技术介绍
为了提高旋转件的带负荷能力，保证产品的可靠性，在某些旋转件的两端采用单列圆锥 轴承串联配对使用。但由于目前所用的配对轴承都是随机任意配对使用的，所配对的轴承存 在配对间隙不合适，造成串联配对使用的两个轴承受力不均匀，有些轴承过早损坏或失效， 轴承的损坏或失效联锁的造成其它部件或元器件也过早的损坏或失效，严重影响了产品的使 用寿命，这种情况所造成的经济损失是无法估量的。关于圆锥轴承串联配对间隙的测量方法 ， 一些轴承供应商有资料介绍将需要配对的甲、乙两个轴承分别单独进行测量，先进行轴 承甲内外圈Cd端面分别相隔120度的三个方向进行测量。方法是将内圈及圆锥滚子轴承 放在测量平台上，然后再放外圈，装上外圈后轻轻地旋转外圈，直到所有圆锥滚子均匀地靠 在内圈的挡边上，通过对外圈施加一定的压力，测量得轴承F甲iF(Fcd^ Fcd2+ Fcd3) +3的平 均值；再对轴承乙进行测量，在测量平台上放上三个等高的垫块(在圆周上每隔120度放一 个)，将内圈及圆锥滚子轴承平稳地放在测量平台上，然后再放外圈后再轻轻地旋转外圈， 直到所有圆锥滚子轴承均匀地靠在挡边上，向轴承外圈施加一定的力，测量得垫块与乙轴承 外圈端面？乙11=。<111+ Fdl2+ Fdl3) +3平均值，然后按下式计算H-FiM+CA=h-F甲m(注以上 原文择抄，CA为轴承间隙，H为外隔圈厚度，h为内隔圈厚度，Fcdl、 Fcd2、 Fcd3为轴承甲的内 外圈高度差值，Fdn、 Fdl2、 Fdu靠垫块一侧的轴承乙内圈端面至轴承乙外圈的距离)。这种 方法测量精度不高，测量次数多，工效低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法及装置。该方法及 装置具有测量精度高，操作简便，可提高测量效率。本专利技术的技术方案单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法，其特征在于该方法是先将轴承甲、内隔圈、轴承乙、和压板依次套在底座的芯轴上，将螺母甲套在芯轴的螺纹甲上 ，边旋紧螺母甲边旋转轴承乙外圈、使轴承乙的内外圈与圆锥滚子紧密贴合，并使压板压紧轴承乙外圈；再将支角支板部件装在芯轴上，使支脚支板部件上的支爪压在轴承甲外圈上， 将螺母乙套在芯轴的螺纹乙上，边旋紧螺母乙边旋转轴承甲外圈，使轴承甲的内外圈与圆锥滚子紧密贴合，并使支角支板部件支爪压紧轴承甲外圈；然后分别测量两个轴承外圈相邻两 端面的间距和外隔圈的高度，计算两个轴承外圈相邻两端面的间距与外隔圈的高度差，得出 单列圆锥轴承串联的配对间隙。上述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法中，所述的配对间隙为O. 02 0. 08 y m之 间为合适。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法中，所述的配对间隙为O. 02 0. 04y m之间为最佳。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法中，所述的螺母甲和螺母乙拧紧时使用力 矩扳手，以保证定值的压紧力。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法中，所述的芯轴与轴承甲和轴承乙的配合 间隙应保证两配对轴承外圈的平行度；螺母甲和螺母乙的拧紧程度应保证两配对轴承的内圈 与内隔圈紧密贴合不留有间隙。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法中，在测量两个轴承外圈相邻两端面的间 距时，要沿轴承外圈的圆周相隔120。测量三次，取三次测量结果的平均值，作为两个轴承 外圈相邻两端面的间距值。根据前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法所用的装置，包括底座l;底座l上设 有芯轴2，芯轴2为台阶状的圆轴；在芯轴2的顶部设有螺纹甲3和螺纹乙4，螺纹甲3的直径大 于螺纹乙4的直径；在螺纹甲3上套有用螺母甲5固定的压板6，在螺纹乙4上套有用螺母乙7固 定的支脚支板部件8。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量装置中，所述的支脚支板部件8包括支板9;支 板9上设有沿圆周均布的三个支脚10 ，每个支脚10的下部均设有支爪11 。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量装置中，所述的芯轴2插在底座1上，在芯轴2 与底座1的连接处设有防转销12。前述的单列圆锥轴承串联配对间隙的测量装置中，所述的支脚10经螺钉13与支板9连接与现有技术相比，本专利技术可以使单列串联配对的圆锥轴承达到精确配对，防止因配对的 轴承存在配对间隙不合适，造成串联配对使用时两个轴承受力不均匀，使有些轴承过早损坏 或失效，联锁的造成其它部件或元器件也过早的损坏或失效，严重影响产品的使用寿命。本 专利技术具有测量精度高，操作简便，可提高测量效率。附图说明附图l是本专利技术的工作原理示意附图2是本专利技术所用装置的结构示意附图3是本专利技术中底座和芯轴组合件的结构示意附图4是本专利技术中支脚支板部件的结构示意附图5是附图4的俯视附图6是本专利技术中需要测量的两个配对轴承的示意图。附图中的标记为l-底座，2-芯轴，3-螺纹甲，4-螺纹乙，5-螺母甲，6-压板，7-螺母 乙，8-支脚支板部件，9-支板，10-支脚，11-支爪，12-防转销，13-螺钉，14-轴承甲，15-轴承乙，16-轴承甲外圈，17-轴承甲内圈，18-轴承乙外圈，19-轴承乙内圈，20-圆锥滚子 ，21-内隔圈，22-外隔亂H-两个串联轴承外圈相邻端面的间距，Hr外隔圈的高度，d-轴承 甲外圈内端面，ch-轴承乙外圈内端面，h-两个串联轴承内圈相邻端面的间距，c-轴承甲内圈内 端面，ci-轴承乙内圈内端面。具体实施例方式实施例单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法及装置。本专利技术所工作的对象是两个配 对的轴承，分别称为轴承甲14和轴承乙15。 一般轴承供应商所提供的配对轴承组包括轴承甲 14和轴承乙15，还包括内隔圈21和外隔圈22。轴承供应商所提供的配对轴承组如图6所示( 在图中为了标注两个串联轴承外圈相邻端面的间距H，有一边的外隔圈22未画出)。图中c表 示轴承甲内圈17与轴承乙内圈19相邻的端面，d表示轴承甲外圈16与轴承乙外圈18相邻的端 面，"表示轴承乙内圈19与轴承甲内圈17相邻的端面，ch表示轴承乙外圈18与轴承甲外圈16 相邻的端面，^表示外隔圈的高度，h两个串联轴承内圈相邻端面的间距。关于圆锥轴承串 联配对间隙的现有测量方法， 一些轴承供应商有资料介绍将需要配对的甲、乙两个轴承分 别单独进行测量，先进行轴承甲内外圈c d端面分别相隔120度的三个方向进行测量。方法 是将内圈及圆锥滚子轴承放在测量平台上，然后再放外圈，装上外圈后轻轻地旋转外圈， 直到所有圆锥滚子均匀地靠在内圈的挡边上，通过对外圈施加一定的压力，测量得轴承F甲 M=(Fcdl+ Fcd2+ Fcd3) +3的平均值；再对轴承乙进行测量，在测量平台上放上三个等高的垫 块(在圆周上每隔120度放一个)，将内圈及圆锥滚子轴承平稳地放在测量平台上，然后再 放外圈后再轻轻地旋转外圈，直到所有圆锥滚子轴承均匀地靠在挡边上，向轴承外圈施加一 定的力，测量得垫块与乙轴承外圈端面？乙11=。(111+ Fdl2+ Fdl3) +3平均值，然后按下式计算 :H-F乙M+C^h-F甲M(注以上原文择抄，CA为轴承间隙，H为外隔圈厚度，h为内隔圈厚度，Fcdi、 Fcd2、 Fcd3为轴承甲的内外圈高度差值，本文档来自技高网...

【技术保护点】
单列圆锥轴承串联配对间隙的测量方法，其特征在于：该方法是先将轴承甲、内隔圈、轴承乙和压板依次套在底座的芯轴上，将螺母甲套在芯轴的螺纹甲上，边旋紧螺母甲边旋转轴承乙外圈、使轴承乙的内外圈与圆锥滚子紧密贴合，并使压板压紧轴承乙外圈；再将支角支板部件装在芯轴上，使支脚支板部件上的支爪压在轴承甲外圈上，将螺母乙套在芯轴的螺纹乙上，边旋紧螺母乙边旋转轴承甲外圈，使轴承甲的内外圈与圆锥滚子紧密贴合，并使支角支板部件支爪压紧轴承甲外圈；然后分别测量两个轴承外圈相邻两端面的间距和外隔圈的高度，计算两个轴承外圈相邻两端面的间距与外隔圈的高度差，得出单列圆锥轴承串联的配对间隙。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴富元，马廷圣，万丽，
申请(专利权)人：贵州力源液压股份有限公司，
类型：发明
国别省市：52[中国|贵州]