【技术实现步骤摘要】
专利说明 一、
本技术涉及光学测试
，尤其是一种用于多波段光轴一致性测试的测试仪。二
技术介绍
在光轴一致性测试设备中，目前多采用的是单一波段光轴一致性测试设备，其只能进行可见光波段设备之间或红外波段设备之间的光轴一致性测试。近年来，随着多波段光电设备在同一产品中的使用，它们之间的光轴一致性问题成为衡量系统性能的一个重要内容。过去单一的测试设备由于覆盖波段范围窄而无法满足当前的测试需求。三、
技术实现思路
本技术解决了
技术介绍
中存在的无法对多波段光轴进行一次性测试的技术问题。本技术的技术解决方案是一种多波段光轴一致性测试仪，其特殊之处在于该测试仪包括离轴抛物面反射镜1、反射镜2、分光镜3、温控电路5、十字丝6、可见光源7和图像采集处理模块4，可见光源7的光路上依次设置有十字丝6和分光镜3，十字丝6接有温控电路5，分光镜3的一路光路上设置有图像采集处理模块4，另一路光路上设置有反射镜2，反射镜2的光路上设置有离轴抛物面反射镜1。上述图像采集处理模块4由CCD、图像采集卡和计算机构成。上述十字丝6由半径小于0.1mm的电热合金丝制成。上述十字丝6由辐射率较高的金属十字...
【技术保护点】
一种多波段光轴一致性测试仪，其特征在于：该测试仪包括离轴抛物面反射镜（１）、反射镜（２）、分光镜（３）、温控电路（５）、十字丝（６）、可见光源（７）和图像采集处理模块（４），所述可见光源（７）的光路上依次设置有十字丝（６）和分光镜（３），所述十字丝（６）接有温控电路（５），所述分光镜（３）的一路光路上设置有图像采集处理模块（４），另一路光路上设置有反射镜（２），所述反射镜（２）的光路上设置有离轴抛物面反射镜（１）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘朝晖，张恒金，黄静，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：87[中国|西安]
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