光电探测器光谱响应测试实验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种光电探测器光谱响应测试实验装置，包括待测光电探测器组件和光功率探测器组件，待测光电探测器的输出通过ＢＮＣ线与精密电流表相连；光功率探测器组件的输出通过ＢＮＣ线与光功率计相连。溴钨灯、电脑、光栅光谱仪自备。实验时用ＵＳＢ连接线将电脑与光栅光谱仪相连，将亮度可调溴钨的光输出接口与光栅光谱仪的光输入接口相连。通过转接插口与待测光电探测器与光栅光谱仪相连，用精密电流表测出光电探测器在不同波长的光照下的电流值，再用光功率计测出同样条件下的光功率值，然后计算出在某一波长下电流与光功率的比值，最后绘出在不同波长下的响应度－波长曲线即为该光电探测器的光谱响应曲线。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光电探测器光镨响应测试实验装置，用于对光电 探测器光谱响应曲线测定的实验。技术背景光谱响应度是光电探测器的基本性能参数之一，它表征了光电探测器 对不同波长入射辐射的响应。 一般地，光栅光镨仪出射的光十分微弱且为 窄平行光，如果不釆用相关的光路处理， 一般待测光电探测器是无法探测到的；采用光路处理后，待测光电探测器的输出电流值也非常微弱，必须 采用精密微电流表才能检测出；实验中还要对连续波长的光进行光功率测 量，必须采用能够测量^t弱的连续波长光功率的光功率计。目前，尚无方 便、筒单、合适的实验装置对光电探测器光谱的响应曲线进行测定。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种光电探测器光谦响应测试实验装置，可 以方便地测量待测光电探测器的光谱特性曲线，本技术的方案是本技术的光电探测器光谦响应测试实验 装置包括待测光电探测器组件和光功率探测器组件，待测光电探测器组件 的待测光电探测器通过底座固定在一圆筒壳体中，圓筒前部是与光栅光傳 仪输出口相配套的转接插口 ，待测光电探测器的输出通过BNC线与精密电 流表相连；光功率探测器组件的光功率探测器通过底座固定在一圓筒壳体 中，圆筒本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电探测器光谱响应测试实验装置，包括待测光电探测器组件和光功率探测器组件，其特征在于：待测光电探测器组件的待测光电探测器通过底座固定在一圆筒壳体中，圆筒前部是与光栅光谱仪输出口相配套的转接插口，待测光电探测器的输出通过ＢＮＣ线与精密电流表相连；光功率探测器组件的光功率探测器通过底座固定在一圆筒壳体中，圆筒前部是与光栅光谱仪输出口相配套的转接插口，光功率探测器的输出通过ＢＮＣ线与光功率计相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邓标华，艾锋，徐良，
申请(专利权)人：湖北众友科技实业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：83[中国|武汉]