【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试
,特别涉及一种THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,还涉及一种THz光电探测器绝对光谱响应率校准方法。
技术介绍
绝对光谱响应率是指探测器输出的光电流(或电压)与入射光功率的比值,表征光电转换的能力,对THz光电探测器的绝对光谱响应率进行校准是用其进行高精度THz功率测量的前提。THz技术在诸多领域的应用均产生了对THz光电探测器的绝对光谱响应率参数进行校准的需求,具体体现在:标定和比较THz光源;标定和比较THz探测器;在主动安检系统及医疗方面确定人体可接受的辐射照度上限;校准THz遥感和深空探测设备。对THz光电探测器的绝对光谱响应率进行高精度校准是一个亟待解决的问题,国内外还没有高精度的THz光电探测器绝对光谱响应率校准方案,无法实现工作探测器的高精度校准,不能满足重大工程及科研生产应用中THz器件及设备的高精度校准需要。 多家研究机构均开展了THz光电探测器绝对光谱响应率的校准研究工作。自2008年起,德国国家计量机构PTB开展了基于低温辐射计的THz探测器绝对光谱响应率校准研究,PTB研究人员用低温辐射计测量了工作频率为2.5THz的量子级联激光器的出射功率,然后此为主标准对热释电探测器的绝对光谱响应率参数进行校准。经校准后的热释电探测器便可作为标准探测器对THz功率进行测量或对其它THz探测器的绝对光谱响应进行校准。 ...
【技术保护点】
一种THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,其特征在于,包括:CO2泵浦气体THz激光器、汇聚透镜、衰减器、电替代辐射计、电控位移导轨系统、隔离罩、电测仪表和数据采集与控制系统;所述CO2泵浦气体THz激光器为THz源,在其出射口设置汇聚透镜;所述衰减器设置在电替代辐射计前面,对THz波进行衰减;所述电替代辐射计为主标准探测器,所述电控位移导轨系统移动被测探测器到主标准探测器的位置,使两探测器的入射孔位置等同;所述隔离罩包裹电替代辐射计和被测探测器;所述数据采集与控制系统控制电控位移导轨系统,并将电测仪表采集到的信号进行数据分析处理,输出被测探测器的绝对光谱响应曲线;所述电替代辐射计包括辐射吸收元件、电热丝和温度敏感元件,电替代辐射计外面还加设有用隔热材料制作的热屏蔽罩;所述辐射吸收元件采用平面吸收层结构,且在吸收层表面设置一个顶端开有圆孔的半球状反射罩,所述吸收层与热电堆相连接,电压表检测热电堆输出的热电势;电源、开关和设置在所述吸收层接收面上的电热丝构成闭合回路。
【技术特征摘要】
1.一种THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,其特征在于,包括:
CO2泵浦气体THz激光器、汇聚透镜、衰减器、电替代辐射计、电控位移导轨
系统、隔离罩、电测仪表和数据采集与控制系统;
所述CO2泵浦气体THz激光器为THz源,在其出射口设置汇聚透镜;
所述衰减器设置在电替代辐射计前面,对THz波进行衰减;
所述电替代辐射计为主标准探测器,所述电控位移导轨系统移动被测探测
器到主标准探测器的位置,使两探测器的入射孔位置等同;
所述隔离罩包裹电替代辐射计和被测探测器;
所述数据采集与控制系统控制电控位移导轨系统,并将电测仪表采集到的
信号进行数据分析处理,输出被测探测器的绝对光谱响应曲线;
所述电替代辐射计包括辐射吸收元件、电热丝和温度敏感元件,电替代辐
射计外面还加设有用隔热材料制作的热屏蔽罩;所述辐射吸收元件采用平面吸
收层结构,且在吸收层表面设置一个顶端开有圆孔的半球状反射罩,所述吸收
层与热电堆相连接,电压表检测热电堆输出的热电势;电源、开关和设置在所
述吸收层接收面上的电热丝构成闭合回路。
2.如权利要求1所述的THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,其特征
在于,所述汇聚透镜材料采用Tsurupica。
3.如权利要求1所述的THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,其特征
在于,所述衰减器由多只硅片组成,调节硅片的数量对THz波进行定量衰减。
4.如权利要求1所述的THz光电探测器绝对光谱响应率校准装置,其特征
在于,所述电替代辐...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴斌,应承平,王恒飞,刘红元,李国超,王洪超,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第四十一研究所,
类型:发明
国别省市:山东;37
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