用于检查光学设备的方法和系统技术方案

一种检查光学设备的方法包括（ａ）利用光照明所述光学设备及环境背景，其中所述光包括第一波长带和第二波长带，其中所述第一波长带和所述第二波长带是不同的波长，以及其中所述第一波长带具有第一强度且所述第二波长带具有第二强度；（ｂ）将所述光透射通过所述光学设备，其中大多数所述第一波长带被所述光学设备吸收且大多数所述第二波长带被透射通过所述光学设备，以及在感光性象素阵列上捕捉所述透镜透射光；（ｃ）将所述光透射通过所述环境背景，其中大多数所述第一波长带和所述第二波长带被透射，以及在感光性象素阵列上捕捉所述背景透射光；（ｄ）读取从步骤（ｂ）和（ｃ）所产生的象素并且比较所述读数的灰度标度值，其中从所述背景透射光以及从所述透镜透射光所产生象素的灰度标度值之间的差异是一个足以区分所述光学设备内孔与所述环境背景内泡的值。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

这个专利技术总体上涉及检查光学设备或介质，如眼透镜。更具体而言，本专利技术涉及用于自动地检查光学设备的这种系统以及涉及完好适用在这种系统中的技术和程序。在过去的几年里，已经成功地开发出用于检查眼透镜，尤其是接触透镜的自动化技术。这种技术被公开于例如于2001年12月29日提交的U.S.专利5,500,732和U.S.专利申请序号09/751,875。总体上，在这些技术中，可为紫外光、可见光、或激光的辐射被导引通过透镜以在象素阵列上形成图象。表示阵列象素上辐射强度的数字数据值被产生，且使用计算机来处理这些数据值以确定透镜是否具有任何不可接受的瑕疵或缺陷。具有这样瑕疵或缺陷的任何透镜于是被加以识别且被拒绝。许多这些技术在确保具有不可接受的瑕疵或缺陷的任何透镜被拒绝时是非常高效的。与此同时，这些技术有时拒绝可接受的透镜，即被称为误拒绝的结果。其原因之一是许多程序不能够区分某些类型的透镜缺陷和可能出现在象素阵列上但并不是透镜缺陷的其它特点。当检查系统探测出象素阵列上的一个特点、但不能够确定那个特点是透镜缺陷还是另一个难区分的但却可接受的特点时，所述透镜被拒绝。例如，对于几个检查技术，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检查光学设备的装置，包括（ａ）利用光用于照明光学设备及环境背景的装置，其中所述光包括第一波长带和第二波长带，其中所述第一波长带和所述第二波长带是不同的波长，以及其中所述第一波长带具有第一强度且所述第二波长带具有第二强度；（ｂ）用于将所述光透射通过所述光学设备的装置，其中大多数所述第一波长带被所述光学设备吸收且大多数所述第二波长带被透射通过所述光学设备，以及在感光性象素阵列上捕捉所述透镜透射光；（ｃ）用于将所述光透射通过所述环境背景的装置，其中大多数所述第一波长带和所述第二波长带被透射，以及在感光性象素阵列上捕捉所述背景透射光；（ｄ）用于读取从装置（ｂ）和（ｃ）所产生的象素并且比较所述读...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：AJ迪斯彭扎，MF维曼，KH吉尔斯，J埃贝尔，
申请(专利权)人：庄臣及庄臣视力保护公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]