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干涉仪和付里叶变换光谱仪制造技术

技术编号:2551520 阅读:253 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一个干涉仪包含一个分光镜(BS)和平行安装在可被线性移动的公共滑动部件上的两个扫描反光镜(M1,M2)。干涉仪还包含两个补偿反光镜(M3,M4),补偿反光镜被置于分光镜(BS)和扫描反光镜(M1,M2)之间。分光镜(BS)以及每个补偿反光镜(M3,M4)之间是正交的。对于扫描反光镜(M1,M2)位移的不准确干涉仪有很好的容许偏差。干涉仪可用于生产袖珍型的而且廉价的付里叶变换光谱仪。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一个干涉仪,它包括一个分光镜,适于从入射光产生一个第一光束和一个第二光束;干涉仪还包括一个第一反射器及一个第二反射器,它们适于分别接收第一和第二光束并把它们反射回分光镜。本专利技术还关系到一个付里叶变换光谱仪。基本上由一个分光镜、一个第一和一个第二反光镜构成的传统的Michelson干涉仪,是上述类型干涉仪的一个例子。在Michelson干涉仪中,分光镜将部分入射光向第一反光镜反射,部分入射光向第二反光镜透射。这两个反光镜将光束反射回分光镜,分光镜把它们组合成单一光束,投射到检测器上。依靠分光镜与各个反光镜之间距离不同,光束之间发生相长或相消干涉。这种干涉可借助于检测器记录下来。例如,一个Michelson型干涉仪可被付里叶变换光谱仪用于从宽带光源确定光的光谱。在一般的付里叶变换光谱仪中,一个反光镜用做扫描反光镜,并被线性移动,使它到分光镜的距离及检测器上的干涉图案连续地变化。用这种方式一幅干涉像可由检测器记录下来。借助于付里叶变换,入射光的光谱可被确定。传统干涉仪的一个不便之处是要想获得适于使用的干涉图案就必须精确设定光学元件之间的关系。在Michelson干涉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一个干涉仪,包括一个适于从一个入射光束(Bin)产生一个第一和一个第二光束(B1,B2)的分光镜,还包括适于分别接收第一和第二光束并将它们反射回分光镜的第一和第二反射器(M1,M2),其特征是第一和第二反射器(M1,M2)相互固定地连接在一起并适于被线性移动,以使第一和第二光束的路径长度差改变。干涉仪还包括置于分光镜(BS)和第一反射器(M1.)之间的第一光束(B1)路径上的第三反射器(M3),以及置于分光镜(BS)和第二反射器(M2)之间的第二光束(B2)路径上的第四反射器(M4)。分光镜(BS)、第三反射器(M3)和第四反射器(M4)是正交的。2、一个如权利要求1所述的干涉仪,其特征在于第...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:卡杰拉森
申请(专利权)人:奥普斯公司
类型:发明
国别省市:SE[瑞典]

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