一种傅里叶变换光谱仪相位校正切趾方法技术

本发明专利技术涉及一种傅里叶变换光谱仪相位校正切趾方法，通过对过零单边干涉图加权，减小了由于计算过程中零光程差点附近的数据被利用两次造成的误差，比Mertz提出的切趾方法具有更好的加权效果，能够保证复原光谱的准确度，同时有效降低了计算复杂度。用本发明专利技术的切趾方法对过零单边干涉图加权处理之后，使过零单边干涉图的短双边中具有相同光程差的两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和为加权之前这两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和的平均值。从而减小干涉图的非对称性带来的计算误差，获得更高精度的还原光谱。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱仪的相位校正领域，尤其涉及。
技术介绍
目前，傅里叶变换光谱仪是通过检测干涉信号，然后对干涉图进行傅里叶变换来测定光谱的仪器。理想情况下，干涉图关于零光程差点是对称的，但是由于检测干涉信号很难从零光程差开始、分束板存在吸收损耗和不均勻性、电子线路误差等，导致干涉图出现一定程度的不对称性和相位误差，降低探测灵敏度，并导致谱线畸变。因此，相位误差的校正是傅里叶变换光谱分析仪计算的重要环节。在乘积法相位误差校正中，过零单边干涉图的零光程差点附近领域内的数据被计算两次，产生一定的误差。为了降低这种现象产生的误差，一种可行的技术方案是用Mertz提出的切趾函数与过零单边干涉图相乘，使短双边干涉图中具有相同光程差的两点干涉强度之和等于单点的幅值。切趾函数如下权利要求1. ，其特征在于包括以下步骤步骤(一)通过干涉仪测量得到干涉图光强分布I (X)； 步骤(二)提出阶跃切趾函数A1(X)2.根据权利要求1的切趾方法，其特征在于切趾之后，使过零单边干涉图的短双边中具有相同光程差的两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和为加权之前这两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和的平均值。3.根据权利要求2的切趾方法，进一步包括步骤(四)在光程差-L2 L2范围内，对干涉图进行短双边采样，采样间隔为T，然后对短双边采样数据在光程差-L1 -L2和L2 L1之间进行补零，补零间隔为T，补零后得到新的光强分布I2(X)为4.根据权利要求3的切趾方法，进一步包括步骤(五)根据离散傅里叶变换的奇偶对称性，把光强分布序列I1OO和I2OO分别作为一组虚数序列的实部和虚部，组成一组复数序列Ttl(X)，表示如下5.根据权利要求4的切趾方法，其中所采用的切趾函数，可采用余弦切趾函数或高斯切趾函数来替代三角切趾函数。6.根据权利要求5的切趾方法，进一步包括步骤(六)对复数序列f(x)进行快速傅里叶变换，得到变换后的复数序列F(k)，根据共轭对称复数序列的性质，把复数序列F(k)分成复数序列C(k)和D(k)两部分，其中7.根据权利要求6的切趾方法，进一步包括步骤(七)对光强进行归一化。8.根据权利要求7的切趾方法，其中归一化具体包括假设光强分布BtlGO的最大值是a，最小值是b，对BtlGO采用如下方法进行归一化处理，就可以得到归一化的光强分布B (k)9.，其特征在于包括以下步骤对干涉图进行过零单边采样和短双边采样；对过零单边采样数据补零和阶跃切趾处理，对短双边采样数据补零，使过零单边和短双边采样数据的点数相同并且关于零光程差对称；将上述处理后的过零单边采样数据和短双边采样数据分别作为虚数的实部和虚部，组成一组复数序列，对此复数序列进行三角切趾处理，再进行快速傅里叶变换；根据共轭对称复数序列的性质，进行相位校正，获得准确的光谱分布。10.根据权利要求9的切趾方法，其中所述三角切趾处理可以用余弦切趾处理或高斯切趾处理来替代。全文摘要本专利技术涉及，通过对过零单边干涉图加权，减小了由于计算过程中零光程差点附近的数据被利用两次造成的误差，比Mertz提出的切趾方法具有更好的加权效果，能够保证复原光谱的准确度，同时有效降低了计算复杂度。用本专利技术的切趾方法对过零单边干涉图加权处理之后，使过零单边干涉图的短双边中具有相同光程差的两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和为加权之前这两个对应点的光强与各自对应的旋转因子的乘积之和的平均值。从而减小干涉图的非对称性带来的计算误差，获得更高精度的还原光谱。文档编号G01J3/45GK102519597SQ201110416530公开日2012年6月27日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日专利技术者张志辉, 张鹏 申请人:中国电子科技集团公司第四十一研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏，张志辉，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：