用于辐射吸收度测量的装置及其校准方法制造方法及图纸

在此说明了一种用于辐射吸收度测量的装置以及一种用于校准这种装置的方法。这种装置包括一个辐射源(4，16)，该辐射源发射具有在0.2μm到20μm的区间内的波长的电磁辐射；一个检测所述电磁辐射的检测器(2)；当处于一种测量模式时，所述辐射的至少一部分已经穿过一种介质并且在到达所述检测器之前在离所述辐射源(4，16)一段距离处已经被一个表面(5)反射。该装置的特征在于，所述装置进一步包括一个流体校准单元(8)，这个流体校准单元被适配为安排在所述辐射源(4，16)与所述检测器(2)之间的电磁辐射的路径中。这种用于校准辐射吸收度测量装置的方法包括以下步骤：发射具有在0.2μm到20μm的区间内的波长的电磁辐射，引导所述电磁辐射的至少一部分穿过一个流体校准单元(8)并且检测所述电磁辐射。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体上涉及ー种用于辐射吸收度测量的装置。更加具体而言，本专利技术涉及如在权利要求1的前序部分中定义的ー种光学測量装置。本专利技术还涉及ー种用于对辐射吸收度测量装置进行校准的方法。
技术介绍
光学測量装置通常被用于气态物质的浓度測量。多种不同的技木，像例如差分光学吸收光谱法(D0AQ应用、可调谐激光光谱法应用和傅立叶变换光谱法、以及相应的测量装置，采用通过气体分子的辐射吸收以便对沿着一条辐射路径的特定分子浓度进行计算和评估，这就是所谓的视觉吸收光谱法(in sight absorption spectroscopy) 0这种基本概念典型地包括一个辐射源，该辐射源辐射ー种在光谱上已知的电磁辐射穿过ー个气体体积。在该体积中的每种气体分子将根据其自身独有的吸收光谱来吸收所辐射的光子能量， 该吸收光谱是由在这些具体分子种类(主要依赖于这些具体分子电子的电子、振动以及转动能量状态)中可能的离散的能量传递来确定的。ー种光谱仪典型地用于确定在该测量体积内可能的吸收之后该辐射的光谱。将所测量的光谱与该辐射源的已知光谱进行比较，并且对这些气体种类沿着该辐射路径的独特的吸收光谱进行识别。在该测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：斯万特·瓦林，列夫·尤内鄂斯，
申请(专利权)人：奥普斯公司，
类型：发明
国别省市：