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在此说明了一种用于辐射吸收度测量的装置以及一种用于校准这种装置的方法。这种装置包括一个辐射源(4，16)，该辐射源发射具有在0.2μm到20μm的区间内的波长的电磁辐射；一个检测所述电磁辐射的检测器(2)；当处于一种测量模式时，所述辐射的至...
该专利属于奥普斯公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥普斯公司授权不得商用。

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