一种能实现快速对位的测试架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种能实现快速对位的测试架，涉及PCB测试架技术领域。该测试架包括上模针盘和下模针盘，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。本实用新型专利技术在现有的测试架结构设计上，根据测试架尺寸可选择地增加2组、4组或6组对位件，用于改善常规对位方式误差大的情况，同时可以有效提高高密度的板子的测试良率。

【技术实现步骤摘要】
一种能实现快速对位的测试架
本技术涉及PCB测试架
，尤其涉及一种能实现快速对位的测试架。
技术介绍
市售的复合型测试架均采用伞型弹簧PIN进行对位，由于类PIN对位精度低、误差较大，导致复合型测试架在每次使用时需要花费较长的时间来进行校准对位，对于高密度的板子误测率也比较高，影响生产的效率。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是现有的复合型测试架对位精度差，导致调模时间长，对于高密度的板子容易出现误测。为了解决上述问题，本技术提出以下技术方案：一种能实现快速对位的测试架，包括上模针盘和下模针盘，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。进一步地，所述套柱与上模针盘通过螺丝固定。进一步地，所述套管包括相连的基座和管体，所述管体中空，以容纳所述套柱；所述基座与下模针盘固定。进一步地，所述基座和管体一体成型。进一步地，所述基座的外径大于管体的外径。进一步地，所述下模针盘设有容纳基座的容纳槽，所述基座卡在所述容纳槽中与下模针盘固定。进一步地，所述对位件的数量为3、4或6。与现有技术相比，本技术所能达到的技术效果包括：在现有的测试架结构设计上，根据测试架尺寸可选择地增加2组、3组、4组或6组对位件，用于改善常规对位方式误差大的情况，同时可以有效提高高密度的板子的测试良率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的能实现快速对位的测试架的截面爆炸结构示意图；图2为本技术实施例提供的能实现快速对位的测试架的截面结构示意图；图3为本技术实施例提供的对位件结构示意图。附图标记下模针盘1，上模针盘2，套管3，基座31，管体32，套柱4，螺丝5，容纳槽6，盖板7。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。还应当理解，在此本技术实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本技术实施例。如在本技术实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。参见图1-3，由图可知，本技术实施例提供一种能实现快速对位的测试架，包括上模针盘2和下模针盘1，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管3和套柱4；所述套管3设于下模针盘1，所述套柱4设于上模针盘2；所述下模针盘1和上模针盘2对位合模时，各组所述套柱4套入所述套管3内。具体实施中，所述套柱4与上模针盘2通过螺丝5固定。用螺丝将套柱和上模针盘锁紧，防止套柱脱落。所述套管3包括相连的基座31和管体32，所述管体32中空，以容纳所述套柱4；所述基座31与下模针盘1固定。中空的管体能够容纳管柱，确保精准对位。所述基座31和管体32一体成型。所述基座31的外径大于管体32的外径。套管3的材质可以是金属或合金，一体成型的设计便于生产加工。请继续参见图1-2，具体地，所述下模针盘1设有盖板7以及容纳基座31的容纳槽6，所述基座31卡在所述容纳槽6中与下模针盘1固定，盖板7盖住下模针盘1并将容纳槽6盖住，固定套管3，防止套管3脱离下模针盘1，盖板7对应套管3的区域为中空，留空出与套柱4外径适配的区域，供套柱4套入套管3内。在其他实施例中，所述对位件的数量为3、4或6。通过本技术提供的能快速实现对位的测试架，使用时，装下模(将下模锁紧)→插下模排线→上下模对位合模→插上模排线→将上模锁紧→调试测试→批量测试，可以提高对位精度和生产效率。以上所述，为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种能实现快速对位的测试架，包括上模针盘和下模针盘，其特征在于，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。/n

【技术特征摘要】
1.一种能实现快速对位的测试架，包括上模针盘和下模针盘，其特征在于，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。


2.如权利要求1所述的能实现快速对位的测试架，其特征在于，所述套柱与上模针盘通过螺丝固定。


3.如权利要求1所述的能实现快速对位的测试架，其特征在于，所述套管包括相连的基座和管体，所述管体中空，以容纳所述套柱；所述基座与下模针...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹宇华，张鸿伟，
申请(专利权)人：景旺电子科技龙川有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44