一种偏光轴方位角度测定方法及测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种偏光轴方位角度测定方法及测定装置，方法包括：依次顺序设置光源、第一偏光片、第二偏光片和光侦测器；打开光源，并对第一偏光片进行角度归零；驱动第一偏光片在其所在平面内转动多个角度，光侦测器获取一一对应于各个角度的光强度电压值；利用多个角度与对应的光强度电压值对预建的角度‑光强度电压间函数关系模型进行非线性曲线拟合操作，得到角度‑光强度电压间拟合关系曲线；根据角度‑光强度电压间拟合关系曲线，确定光强度电压的最小值所对应的角度，得到第二偏光片相对于第一偏光片的偏光轴方位角度。本发明专利技术通过函数模型拟合的方式获取偏光轴方位角度，提升测定效率和测定精度。

【技术实现步骤摘要】
一种偏光轴方位角度测定方法及测定装置
本专利技术涉及偏光测定领域，特别涉及一种偏光轴方位角度测定方法及测定装置。
技术介绍
光波根据振动的特点，可分为自然光和偏振光。自然光在垂直光波传导方向的各振动平面上的振幅及频率均相同，其经过反射、折射、双折射及吸收等作用后若成为只在一个方向上振动的光波，这种只在一个方向上振动的光波成为偏振光，偏振片即为可以使自然光变成偏振光的光学元件，该偏光片的偏振光的唯一振动方向即称为其偏光轴方位。当将光束照射在一个水平角度放置的偏光片上，则只有水平偏光轴方位的光波能够透过，此时若再通过一个垂直角度放置的偏光片，则光波完全无法通过，视场完全黑暗，此情况成为直交检偏位；反之，若两偏光片相互平行，即处于平行检偏位的情况，则视场最为明亮；若两者在其他夹角情况，则视场表现为中等程度的亮度。换言之，光波经过第一片偏光片（析光片）偏光轴方位上的振幅于第二片偏光片（待测样本）偏光轴方位上的垂直投影量即为通过两片偏光片后可被侦测的光强度。因此，当待测样本固定时，调整析光片使其与待测样本呈直交检偏位或平行检偏位，即可由析光片的偏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，包括以下步骤：/n依次顺序设置光源、第一偏光片、第二偏光片以及用于侦测光强度电压值的光侦测器；/n打开光源，并对所述第一偏光片进行角度归零，包括：利用电机的输出轴带动所述第一偏光片的中心轴转动，使所述第一偏光片在平面内发生转动，将所述电机旋转至机械原点，以完成对所述第一偏光片的角度归零；/n驱动所述第一偏光片在其所在平面内转动多个角度，并通过所述光侦测器获取一一对应于各个角度的光强度电压值的侦测结果；/n利用所述多个角度与对应的光强度电压值对预建的角度-光强度电压间函数关系模型进行非线性曲线拟合操作，其中所述函数关系模型配置有拟合系数，根据所述多个角...

【技术特征摘要】
1.一种偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，包括以下步骤：
依次顺序设置光源、第一偏光片、第二偏光片以及用于侦测光强度电压值的光侦测器；
打开光源，并对所述第一偏光片进行角度归零，包括：利用电机的输出轴带动所述第一偏光片的中心轴转动，使所述第一偏光片在平面内发生转动，将所述电机旋转至机械原点，以完成对所述第一偏光片的角度归零；
驱动所述第一偏光片在其所在平面内转动多个角度，并通过所述光侦测器获取一一对应于各个角度的光强度电压值的侦测结果；
利用所述多个角度与对应的光强度电压值对预建的角度-光强度电压间函数关系模型进行非线性曲线拟合操作，其中所述函数关系模型配置有拟合系数，根据所述多个角度与对应的光强度电压值确定所述拟合系数的数值，得到角度-光强度电压间拟合关系曲线，所述拟合关系曲线为拟合方程式；
根据所述角度-光强度电压间拟合关系曲线，确定光强度电压的最小值所对应的角度，选择在0-180°范围内对应最小光强度电压值的角度值作为所述第二偏光片相对于第一偏光片的偏光轴方位角度。


2.根据权利要求1所述的偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，所述预建的角度-光强度电压间函数关系模型为：

，其中，为光强度电压值，为相对于归零角度的转动角度，为拟合系数。


3.根据权利要求1所述的偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，所述第一偏光片与第二偏光片中心轴同轴设置，所述第一偏光片在其所在平面内绕其中心轴转动，所述第二偏光片按照预设角度固定在样本平台上，所述光侦测器的感光入口与第二偏光片相对设置。


4.根据权利要求1所述的偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，获取五个或者五个以上相对于归零角度的转动角度，以及一一对应于各个角度的光强度电压值。


5.根据权利要求4所述的偏光轴方位角度测定方法，其特征在于，分别驱动所述第一偏光片在其所在平面内相对于归零角度转动0°、30°、60°、90°、120°、150°和180°。
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【专利技术属性】
技术研发人员：胡海东，王俊涵，许训勇，
申请(专利权)人：昆山鸿仕达智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32