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用于晶体的晶格原子面角度测量装置制造方法及图纸

技术编号:2514123 阅读:222 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台,机台上设置作为载台的转轴,其特征在于,作为载台的转轴上安装有一个径向摆杆,摆杆在转轴的轴端设置有弧形安装孔,以便转轴在大范围内转动时调整,摆杆另一端连接一个连杆,连杆两端分别安装两个销钉,滑块安装板通过4个滑块安装板固定螺钉安装到滑块上,滑块安装在滑轨上,滑轨通过滑轨固定螺钉装在滑轨固定板上,滑轨在空间位置上平行于摆杆运动面并且垂直于摆杆,滑轨固定板安装在机台上,本实用新型专利技术有益效果在于,本实用新型专利技术可以直接测量轴上的角度,避免原有的与传动有关的误差,本实用新型专利技术测量精度提高很多,简单可靠,易于实施,成本低廉。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
用于晶体的晶格原子面角度测量装置
本技术涉及一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置。
技术介绍
从晶体上切割下来的薄片,其切割面与晶体晶格原子面的角度对于实际使用有重要意义,这个角度需要得到精确的测量值。测量晶体晶格原子面的角度,采用与晶格原子距离相近波长的x光照射晶体,产生衍射,测量x光的衍射角度就可以知道晶体晶格原子面角度。公知的测量装置包括一个可转动的载台,载台的轴上带有一个齿轮,用蜗杆驱动齿轮使载台转动,利用蜗杆装置大的传动比,在蜗杆上标上刻度来反映载台轴的转动角度。因为机械加工精度、间隙、回差以及在蜗杆上标刻度读数的原因,角度测量误差比较大。尤其是此角度读数是从蜗杆上得到,误差与传动比相关,传动比越大误差越大,所以不可能得到很高的角度测量精度,一般误差在只能控制到20-30角秒的范围,市场上需要一种晶格原子面测量精度更高的测量装置。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述现有技术的缺陷,提供一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,本技术可以直接测量轴上的角度,避免原有的与传动有关的误差,采用简单可靠的结构变微小的角度为长度来达到1角秒的角度测量精度值,本技术实施简单,操作方便。-->本技术的技术方案是这样的:一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台,机台上设置作为载台的转轴,其特征在于,作为载台的转轴上安装有一个径向摆杆,摆杆在转轴的轴端设置有弧形安装孔,以便转轴在大范围内转动时调整;摆杆另一端连接一个连杆,连杆两端分别安装两个销钉,分别通过两个销钉连接到所述摆杆的一端和滑块安装板,并且连杆与销钉有相对的转动空间;滑块安装板通过4个滑块安装板固定螺钉安装到滑块上,滑块安装在滑轨上,所述滑块只能在滑轨上沿一条直线运动;滑轨通过滑轨固定螺钉装在滑轨固定板上,滑轨在空间位置上平行于摆杆运动面并且垂直于摆杆,滑轨固定板安装在机台上。根据上述结构的本技术,其特征还在于,一个小弹簧一端连在滑轨固定板上的滑轨弹簧连接螺杆上,另一端连在滑块安装板上的滑块弹簧连接螺杆上,小弹簧在远离摆杆方向施加拉力,以消除滑轨和滑块之间以及连杆和两个销钉之间的回差和间隙。根据上述结构的本技术,其特征还在于,滑轨固定板通过滑轨固定板安装螺钉固定在机台上。根据以上结构的本技术,其有益效果在于,1、本技术可以直接测量轴上的角度,避免原有的与传动有关的误差,本技术测量精度提高很多;2、简单可靠,易于实施,成本低廉,本装置尽管有很高的精度,但对摆杆、连杆的加工精度,安装精度都没有过高要求。附图说明下面结合实施方式和附图对本技术详细加以说明。-->附图1为本技术的立体图。附图2为本技术拆除滑块安装板后的立体图。在图中,1、机台;2、转轴;3、摆杆;4、连杆;5、滑轨固定板;6、滑块安装板;7、小弹簧;8、光栅尺读数头;9、滑块安装板固定螺钉;10、滑轨固定板安装螺钉;11、销钉;12、滑轨弹簧连接螺杆;13、滑块弹簧连接螺杆;14、滑轨;15、滑块;16、滑轨固定螺钉;17、弧形安装孔。具体实施方式如图1、2所示,一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台1,机台1上设置作为载台的转轴2,其特征在于,作为载台的转轴2上安装有一个径向摆杆3,摆杆3在转轴2的轴端设置有弧形安装孔17,以便转轴2在大范围内转动时调整;摆杆3另一端连接一个连杆4,连杆4两端分别安装两个销钉11,分别通过两个销钉11连接到所述摆杆3的一端和滑块安装板6,并且连杆4与销钉11有相对的转动空间;滑块安装板6通过4个滑块安装板固定螺钉9安装到滑块15上,滑块15安装在滑轨14上,所述滑块15只能在滑轨14上沿一条直线运动;滑轨14通过滑轨固定螺钉16装在滑轨固定板5上,滑轨14在空间位置上平行于摆杆3运动面并且垂直于摆杆3,滑轨固定板5安装在机台1上。另外,一个小弹簧7一端连在滑轨固定板5上的滑轨弹簧连接螺杆12上,另一端连在滑块安装板6上的滑块弹簧连接螺杆13上,小-->弹簧7在远离摆杆3方向施加拉力,以消除滑轨14和滑块15之间以及连杆4和两个销钉11之间的回差和间隙。滑轨固定板5通过3个滑轨固定板安装螺钉10固定在机台1上。本文档来自技高网...
用于晶体的晶格原子面角度测量装置

【技术保护点】
一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台(1),机台(1)上设置作为载台的转轴(2),其特征在于,作为载台的转轴(2)上安装有一个径向摆杆(3),摆杆(3)在转轴(2)的轴端设置有弧形安装孔(17),以便转轴(2)在大范围内转动时调整;摆杆(3)另一端连接一个连杆(4),连杆(4)两端分别安装两个销钉(11),分别通过两个销钉(11)连接到所述摆杆(3)的一端和滑块安装板(6),并且连杆(4)与销钉(11)有相对的转动空间;滑块安装板(6)通过4个滑块安装板固定螺钉(9)安装到滑块(15)上,滑块(15)安装在滑轨(14)上,所述滑块(15)只能在滑轨(14)上沿一条直线运动;滑轨(14)通过滑轨固定螺钉(16)装在滑轨固定板(5)上,滑轨(14)在空间位置上平行于摆杆(3)运动面并且垂直于摆杆(3),滑轨固定板(5)安装在机台(1)上。

【技术特征摘要】
1、一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台(1),机台(1)上设置作为载台的转轴(2),其特征在于,作为载台的转轴(2)上安装有一个径向摆杆(3),摆杆(3)在转轴(2)的轴端设置有弧形安装孔(17),以便转轴(2)在大范围内转动时调整;摆杆(3)另一端连接一个连杆(4),连杆(4)两端分别安装两个销钉(11),分别通过两个销钉(11)连接到所述摆杆(3)的一端和滑块安装板(6),并且连杆(4)与销钉(11)有相对的转动空间;滑块安装板(6)通过4个滑块安装板固定螺钉(9)安装到滑块(15)上,滑块(15)安装在滑轨(14)上,...

【专利技术属性】
技术研发人员:任荣
申请(专利权)人:任荣
类型:实用新型
国别省市:65[]

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